Observations from scanning electron

Observations from scanning electron micrographs (SEM)
suggest that distinct phase separation takes place in an ABR.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สังเกตจากการสแกน micrographs อิเล็กตรอน (SEM)แนะนำว่า แยกเฟสแตกต่างเกิดขึ้นในการ ABR.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกตจากไมโครอิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
ชี้ให้เห็นว่าการแยกเฟสที่แตกต่างกันจะเกิดขึ้นใน ABR

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สังเกตจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM )
แนะนำที่แตกต่างกันการแยกเฟสเกิดขึ้นใน
ABR