2.4 Wide-angle X-ray Diffraction Wi

2.4 Wide-angle X-ray Diffraction
Wide-angle X-ray diffraction (WAXD) analysis of the
used rice flours was performed using a nickel-filtered Cu
Ka radiation source (RINT RAPID-S; Rigaku-Denki Co.,
Ltd., Tokyo, Japan) generated at 40 kv and 30 mA. The rice
flour samples were scanned at room temperature through
the 2q region from 5º to 35º at a scanning rate of 1 º/ min.
The intensity distribution curves were measured using a
goniometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4 เลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์มุมกว้าง วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์มุมกว้าง (WAXD) ของการแป้งข้าวที่ใช้ทำการใช้การกรองนิกเกิล Cuแหล่งรังสี ka (RINT พิด-S Rigaku เดงกิ จำกัดจำกัด โตเกียว ญี่ปุ่น) สร้างขึ้นที่ 40 kv และ 30 mA ข้าวตัวอย่างแป้งสาลีสแกนอุณหภูมิห้องผ่านภูมิภาคไตรมาส 2 จาก 5º เพื่อ 35º ที่ 1 ºอัตราการสแกน / นาทีเส้นโค้งการกระจายความเข้มถูกวัดค่าโดยใช้การgoniometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 มุมกว้าง X-ray เลนส์
มุมกว้าง X-ray การเลี้ยวเบน (WAXD) การวิเคราะห์ของ
ใช้แป้งข้าวเจ้าที่ได้ดำเนินการโดยใช้ทองแดงนิกเกิลกรอง
กากำเนิดรังสี (rint Rapid-S; Rigaku-Denki Co. ,
Ltd. , กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ที่สร้างขึ้นที่ 40 KV และ 30 มิลลิแอมป์ ข้าว
ตัวอย่างแป้งถูกสแกนที่อุณหภูมิห้องผ่าน
ภูมิภาค 2q จาก5ºเพื่อ35ºในอัตราที่สแกน 1 º / นาที.
เส้นโค้งการกระจายความเข้มถูกวัดโดยใช้
goniometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4 ความกว้างมุมการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( มุมกว้าง waxd ) การวิเคราะห์ใช้แป้งข้าวเจ้าเป็นการใช้ทองแดงนิกเกิลกรองกา รังสีแหล่ง ( รินทร์ rapid-s ; rigaku เดนกิ จำกัดจำกัด , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) สร้างขึ้น ที่ 40 กิโล และมา 30 ข้าวตัวอย่างแป้งถูกสแกนที่อุณหภูมิห้อง ผ่านเขต 5 มิ.ย. º 35 ºที่สแกนอัตรา 1 º / minความเข้มการใช้เส้นโค้งที่ถูกวัดถุงมือ .