3.1.9 สัณฐานภาพยนตร์กล้องจุลทรรศน์อ

3.1.9 สัณฐานภาพยนตร์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดถูกจ้างมาเพื่อตรวจสอบ
จุลภาคของพื้นผิวและข้ามส่วนของ CM
ภาพยนตร์ที่มีเนื้อหาที่แตกต่างกันกลีเซอรอล (รูปที่. 2) มุมมองด้วยกล้องจุลทรรศน์
แสดงให้เห็นลักษณะพื้นผิวค่อนข้างเรียบและสม่ำเสมอโดยไม่ต้อง
รอยแตกแบ่งหรือช่องบนพื้นผิวของฟิล์มเซนติเมตร มะเดื่อ. 2
แสดงให้เห็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ของพื้นผิวด้านนอก
(ซ้าย) และตัด (ขวา) สำหรับ CM25, CM50 และภาพยนตร์ CM75
SEM สังเกตของภาพยนตร์ที่มีความเข้มข้นของกลีเซอรอลที่แตกต่างกัน
ไม่ได้นำเสนอความแตกต่างใด ๆ ที่มีการทำเครื่องหมายในโครงสร้าง เนื้อเดียวกัน
เมทริกซ์ของภาพยนตร์ CM เป็นตัวบ่งชี้ความสมบูรณ์ของโครงสร้าง oftheir

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.1.9 (รูปที่. 2) มะเดื่อ (SEM) ของพื้นผิวด้านนอก(ซ้าย) และตัด (ขวา) สำหรับ CM25, CM50 และภาพยนตร์ CM75 SEM ที่มี ๆ หัวเรื่อง: การทำเครื่องหมายในโครงสร้างเนื้อเดียวกันเมทริกซ์ของภาพยนตร์ CM oftheir

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.1.9 สัณฐานภาพยนตร์


ภาพยนตร์ที่มีเนื้อหาที่แตกต่างกันกลีเซอรอลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดถูกจ้างมาเพื่อตรวจสอบจุลภาคของพื้นผิวและข้ามส่วนของซม. ( รูปที่ . 2 ) มุมมองด้วยกล้องจุลทรรศน์
แสดงให้เห็นลักษณะพื้นผิวค่อนข้างเรียบและสม่ำเสมอโดยไม่ต้อง
รอยแตกแบ่งหรือช่องบนพื้นผิวของฟิล์มเซนติเมตรมะเดื่อ . 2
แสดงให้เห็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) ของพื้นผิวด้านนอก
( ซ้าย ) และตัด ( ขวา ) cm25 สำหรับ ,cm50 และภาพยนตร์ cm75

ไม่ได้นำเสนอความแตกต่างใด SEM สังเกตของภาพยนตร์ที่มีความเข้มข้นของกลีเซอรอลที่แตกต่างกันจะที่มีการทำเครื่องหมายในโครงสร้างเนื้อเดียวกัน
เมทริกซ์ของภาพยนตร์ซม. เป็นตัวบ่งชี้ความสมบูรณ์ของโครงสร้างอ.