XRD and AFM analysis showedthat the

XRD and AFM analysis showedthat the AZO thin films grown on ZnO (100) plane still followed the (100) growth direction of the ZnOSC substrate, and the ultimate morphology appeared as an island structure. When deposited on glass,the AZO thin films appeared (002) diffraction peak.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

XRD และประสิทธิผลวิเคราะห์ showedthat AZO บางฟิล์มที่ปลูกบนระนาบ (100) ZnO ยังคงตามทิศทางการเติบโต (100) ของพื้นผิว ZnOSC และสัณฐานวิทยาสุดปรากฏเป็นโครงสร้างเกาะ เมื่อวางบนกระจก ฟิล์มบางของ AZO ปรากฏ peak กระจาย (002)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD และ AFM การวิเคราะห์พบว่าสามารถยับยั้งภาพยนตร์บาง AZO ปลูกในซิงค์ออกไซด์ (100) เครื่องบินยังคงตาม (100) ทิศทางการเจริญเติบโตของสารตั้งต้น ZnOSC และสัณฐานวิทยาที่ดีที่สุดดูเหมือนจะเป็นโครงสร้างเกาะ เมื่อวางลงบนกระจกฟิล์มบาง AZO ปรากฏ (002) เลี้ยวเบนสูงสุด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และการวิเคราะห์ XRD พบว่า : AFM ฟิล์มบาง ZnO ( 100 ) ปลูกบนระนาบ ( 100 ) ยังตามทิศทางการเติบโตของ znosc พื้นผิวและลักษณะที่ปรากฏเป็นเกาะที่ดีที่สุดโครงสร้าง เมื่อฝากบนกระจก , ฟิล์มบาง : ปรากฏ ( 002 ) โดยสูงสุด