.physical challenges: these are due

.physical challenges: these are due to the increment of tunneling and leakage current s as the devices are becoming smaller, impacts the performance and functionality of CMOS devices.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความท้าทาย.physical: นี่คือเนื่องจากการเพิ่มขึ้นของทันเนล และ s ปัจจุบันรั่วเป็นอุปกรณ์จะกลายเป็นเล็ก ผลกระทบต่อประสิทธิภาพการทำงานของอุปกรณ์ CMOS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความท้าทาย .physical: เหล่านี้เนื่องจากมีการเพิ่มขึ้นของการขุดอุโมงค์และปัจจุบันของการรั่วไหลเป็นอุปกรณ์ขนาดเล็กจะกลายเป็นผลกระทบต่อผลการดำเนินงานและการทำงานของอุปกรณ์ CMOS

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความท้าทายทางกายภาพ : เหล่านี้เนื่องจากการเพิ่มของอุโมงค์และการรั่วไหลในปัจจุบันเป็นอุปกรณ์จะกลายเป็นเล็ก ผลกระทบต่อสมรรถนะและการทำงานของ CMOS อุปกรณ์