XRD analysis is conducted to reveal

XRD analysis is conducted to reveal the crystalline of all
photocatalysts, as illustrated in Fig. 2. The loading of Pt obviously
does not change the XRD pattern of the support, namely
SrTiO3:Rh [27] and CuGaAlO4 [26]. This is due to the fact that Pt
loading is very small and highly dispersed on the supported surface.
For commercial WO3, the resulted XRD pattern is similar to
that of orthorhombic WO3 (JCPDS file 20-1324) [26]. TEM observations
are consistent with the results of XRD. From the observations,
several well-dispersed Pt nanoparticles with size of near 1–3 nm
are located on the surface of both Pt/SrTiO3:Rh and Pt/CuAlGaO4
photocatalysts (Fig. 3). Moreover, Pt loading does not change the
shape and morphology of these supported photocatalysts. X-ray
photoelectron spectroscopy (XPS) was also conducted in order to
investigate in more detail the loading of Pt. Fig. 4 reveals two possible
peaks at 73.6–74.1 and 77–77.4 eV, which are attributed to
4f7/2 and 4f5/2 of Pt oxide, respectively

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการวิเคราะห์ XRD เฉลยผลึกทั้งหมดphotocatalysts ดังที่แสดงใน Fig. 2 โหลดของ Pt อย่างชัดเจนไม่เปลี่ยนรูปแบบของการสนับสนุน XRD การได้แก่SrTiO3:Rh [27] และ CuGaAlO4 [26] นี่คือเนื่องจากว่า Ptโหลดมีขนาดเล็กมาก และกระจัดกระจายอย่างมากบนพื้นผิวได้รับการสนับสนุนสำหรับ WO3 พาณิชย์ XRD รูปแบบ resulted จะคล้ายกับของ orthorhombic WO3 (JCPDS ไฟล์ 20-1324) [26] ยการสังเกตจะสอดคล้องกับผล XRD จากการสังเกตการณ์หลาย Pt เก็บกักพักกระจัดกระจาย ด้วยขนาดใกล้ nm 1 – 3ตั้งอยู่บนพื้นผิวของ Pt ทั้ง / SrTiO3:Rh และ Pt/CuAlGaO4photocatalysts (Fig. 3) นอกจากนี้ การโหลด Pt ไม่เปลี่ยนรูปร่างและสัณฐานวิทยาของเหล่านี้ได้รับการสนับสนุน photocatalysts เอ็กซ์เรย์ก photoelectron (XPS) ยังดำเนินการเพื่อตรวจสอบรายละเอียดโหลดของพ. Fig. 4 แสดงถึงสองได้พีคส์ 73.6-74.1 และ eV, 77 – 77.4 ซึ่งมาจาก4f7/2 และ 4f5/2 Pt ออกไซด์ ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ XRD
จะดำเนินการที่จะเปิดเผยผลึกของทุกโฟโตคะดังแสดงในรูปที่ 2. การโหลดของ Pt
อย่างเห็นได้ชัดไม่ได้เปลี่ยนรูปแบบXRD ของการสนับสนุนคือ
SrTiO3: Rh [27] และ CuGaAlO4 [26] เพราะนี่คือความจริงที่ว่า Pt
โหลดมีขนาดเล็กมากและแยกย้ายกันไปอย่างมากบนพื้นผิวการสนับสนุน.
สำหรับ WO3 ในเชิงพาณิชย์รูปแบบ XRD
ส่งผลให้มีความคล้ายคลึงกับที่orthorhombic WO3 (JCPDS ไฟล์ 20-1324) [26] TEM
สังเกตมีความสอดคล้องกับผลการXRD จากการสังเกตที่ดีหลายแยกย้ายกัน Pt อนุภาคนาโนที่มีขนาดใกล้ 1-3 นาโนเมตรตั้งอยู่บนพื้นผิวของทั้งPt / SrTiO3 นี้: Rh และ Pt / CuAlGaO4. (รูปที่ 3) โฟโตคะ นอกจากนี้ยังมีการโหลด Pt ไม่เปลี่ยนแปลงรูปร่างและสัณฐานวิทยาของโฟโตคะเหล่านี้ได้รับการสนับสนุน เอ็กซ์เรย์สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) นอกจากนี้ยังได้ดำเนินการเพื่อที่จะตรวจสอบในรายละเอียดเพิ่มเติมในการโหลดของPt มะเดื่อ. 4 แสดงให้เห็นว่าทั้งสองเป็นไปได้ที่ยอดเขาที่73.6-74.1 และ 77-77.4 eV ซึ่งจะมีการบันทึก4f7 / 2 และ 4f5 / 2 ของ Pt ออกไซด์ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ XRD และเปิดเผยผลึกทั้งหมด
ตัวเร่งปฏิกิริยา ตามที่แสดงในรูปที่ 2 โหลดของ PT เห็นได้ชัด
ไม่ได้เปลี่ยน XRD รูปแบบของการสนับสนุน ได้แก่ :
srtio3 ความชื้นสัมพัทธ์ [ 27 ] และ cugaalo4 [ 26 ] ที่เป็นเช่นนี้เนื่องจากว่า PT
โหลดมีขนาดเล็กมากและสูงกระจายในการสนับสนุนผิว .
สำหรับ wo3 พาณิชย์ , ผล XRD รูปแบบคล้ายกับ
ของออร์โทรอมบิก wo3 ( jcpds ไฟล์ 20-1324 ) [ 26 ] แบบสังเกต
สอดคล้องกับผลวิเคราะห์ . จากการสังเกต
หลายอนุภาคกระจายตัวดี PT มีขนาดใกล้ 1 – 3 nm
ตั้งอยู่บนพื้นผิวของทั้ง PT / srtio3 : RH และ PT / cualgao4
ตัวเร่งปฏิกิริยา ( รูปที่ 3 ) โดย PT โหลดไม่ได้เปลี่ยน
รูปร่างและสัณฐานวิทยาของเหล่านี้ได้รับการสนับสนุนตัวเร่งปฏิกิริยา . เอ็กซ์เรย์
โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี ( XPS ) มาใช้เพื่อศึกษาในรายละเอียดเพิ่มเติม

โหลดของ PT . รูปที่ 4 แสดงสองเป็นไปได้
ยอดที่ 1.5 – bp และ 77 – 77.4 EV ซึ่งเกิดจาก
4f7 / 2 และ 4f5 / 2 ของ PT ออกไซด์ ตามลำดับ