We measured transmittance and refle

We measured transmittance and reflectance for a wafer of untreated silicon and a wafer of textured silicon after doping and treatment with an antireflective coating (Figures 5 and 6).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เราวัด transmittance และแบบสะท้อนแสงแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอนไม่ถูกรักษาและแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอนพื้นหลังโดปปิงค์และการบำบัด ด้วยการเคลือบ antireflective (ตัวเลข 5 และ 6)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เราวัดการส่งผ่านและการสะท้อนสำหรับเวเฟอร์ซิลิกอนได้รับการรักษาและเวเฟอร์ซิลิคอนพื้นผิวหลังจากยาสลบและการรักษาด้วยการเคลือบสะท้อน (5 ตัวเลขและ 6)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เราวัดการส่งผ่านและการสะท้อนของดิบสำหรับเวเฟอร์ซิลิคอนและเวเฟอร์ซิลิคอนหลังจากการเติมและการรักษาพื้นผิวที่มีการเคลือบ antireflective ( ตัวเลข 5 และ 6 )