Observed the ET data of CHUNK "D6Z4

Observed the ET data of CHUNK "D6Z47TM" showed high DCBN introduce from wide WPE when compare with CHUNK D6Z488D.

Could you please help check data at wafer level that have any issue?

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สังเกตข้อมูล ET ของกลุ่ม "D6Z47TM" แสดงให้เห็นว่า DCBN สูงแนะนำจาก WPE กว้างเมื่อเปรียบเทียบกับกลุ่ม D6Z488Dสามารถช่วยตรวจสอบข้อมูลระดับแผ่นเวเฟอร์ที่มีปัญหาหรือไม่

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกตข้อมูล ET ของก้อน "D6Z47TM" แสดงให้เห็นว่า DCBN สูงแนะนำจากห่วยแตกกว้างเมื่อเปรียบเทียบกับก้อน D6Z488D. คุณจะกรุณาช่วยตรวจสอบข้อมูลการในระดับเวเฟอร์ที่มีปัญหาใด ๆ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สังเกต และ ข้อมูล ของก้อน " d6z47tm " พบ dcbn สูงแนะนำจาก wpe กว้างเมื่อเทียบกับก้อน d6z488d

ช่วยตรวจสอบข้อมูลที่เวเฟอร์ระดับนั้นมีปัญหาใด ๆ