In this regard, the two- and three-

In this regard, the two- and three-dimensional AFM images (1 lm  1 lm) of HfO2 multilayer structures
are shown in Figs. 1–3 respectively for samples A1, A2 and A3. These micrographs reveal that
films do not show continuous long trenches or blotches, which are indicative of a crack free and pinhole-
free surfacee surface under investigation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในเรื่องนี้ dimensional สอง และ three AFM ภาพ (1 lm 1 lm) ของโครงสร้างหลายชั้น HfO2มีแสดงใน Figs. 1 – 3 ตามลำดับสำหรับตัวอย่าง A1, A2 และ A3 Micrographs เหล่านี้เปิดเผยที่ไม่มีแสดงภาพยนตร์ trenches ยาวต่อเนื่องหรือ blotches ซึ่งเป็นตัวชี้ให้เห็นของฟรีรอยแตกและรูเข็ม-ผิว surfacee ฟรีภายใต้การตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในเรื่องนี้สองและ AFM ภาพสามมิติ (1 LM 1 LM) ของโครงสร้างหลาย HfO2
ที่แสดงอยู่ในมะเดื่อ 1-3 ตามลำดับสำหรับตัวอย่าง A1, A2 และ A3 ไมโครเหล่านี้แสดงให้เห็นว่า
หนังจะไม่แสดงสนามเพลาะยาวต่อเนื่องหรือเป็นจ้ำ ๆ ซึ่งเป็นตัวบ่งชี้ของฟรีและแตก pinhole-
ผิว surfacee ฟรีภายใต้การสอบสวน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการนี้ สองและสามมิติ AFM ภาพ ( 1  LM 1 กล. ) ของ hfo2 โครงสร้าง Multilayer
แสดงในผลมะเดื่อ . 1 – 3 ตามลำดับอย่าง A1 , A2 และ A3 . micrographs เหล่านี้เปิดเผยว่า
ฟิล์มไม่แสดงร่องลึกยาวต่อเนื่อง หรือ blotches ซึ่งจะแสดงให้เห็นถึงรอยร้าวฟรีและ C -
ฟรี surfacee พื้นผิวภายใต้การสอบสวน