X-Ray powder diffraction was measur

X-Ray powder diffraction was measured to compare crystallinity.
Patterns were collected with a Panalytical Phillips X’Pert
PRO multipurpose diffractometer, with samples mounted on a zero
background silicon wafer fixed in a generic sample holder, using
monochromatic CuK˛ radiation ( = 1.5418 Å) in a range from 5 to
50 2 with step size of 0.026 and time per step of 80 s at room
temperature.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนผงเอกซเรย์ถูกวัดเพื่อเปรียบเทียบ crystallinityรูปแบบที่ถูกเก็บรวบรวม ด้วยการ Panalytical ไขควง X'PertPRO เครื่อง diffractometer มีตัวอย่างติดตั้งอยู่บนศูนย์พื้นหลังแผ่นเวเฟอร์ซิลิกอนที่ถาวรในที่เก็บตัวอย่างทั่วไป ใช้ยัง CuK˛ รังสี (= 1.5418 Å) ในช่วงตั้งแต่ 5 ถึง50 2 ขั้นตอนจำนวน 0.026 และเวลาสำหรับแต่ละขั้นตอนของ 80 s ห้องอุณหภูมิ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เลนส์ผง X-Ray วัดเพื่อเปรียบเทียบผลึก.
รูปแบบที่ถูกเก็บรวบรวมกับฟิลลิป Panalytical X'Pert
PRO diffractometer
อเนกประสงค์ที่มีตัวอย่างติดตั้งอยู่บนศูนย์ซิลิคอนเวเฟอร์พื้นหลังการแก้ไขในผู้ถือตัวอย่างทั่วไปโดยใช้รังสี
Cuk เดียว (? = 1.5418 A) อยู่ในช่วงตั้งแต่ 5 ถึง
50 2? ที่มีขนาด 0.026 ขั้นตอนของการต่อเวลาและขั้นตอนที่ 80 ณ
ห้องอุณหภูมิ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของผลึกผงวัดเปรียบเทียบ .
รูปแบบการเก็บรวบรวมเป็น panalytical ฟิลลิปส์ x'pert
โปรดิฟแฟรกโทมิเตอร์อเนกประสงค์ มีตัวอย่างติดศูนย์
ความเป็นมาซิลิคอนเวเฟอร์ที่ถาวรในการยึดตัวอย่างทั่วไป ใช้สีเดียว cuk
˛รังสี (  = 1.5418 Å ) ในช่วงตั้งแต่ 5 ถึง 50 2
 ที่มีขนาด ก้าวต่อก้าวเวลา 0.026 80 s ที่อุณหภูมิห้อง