2. Experimental procedureThe materi

2. Experimental procedure
The material used in this study was CuW70 alloy. The surface nano-crystallization of W-Cu alloy was obtained by using Kinetic-3000 supersonic particle bombardment system (SFPB). The working pressure was 0.5 MPa and shot peening time was 15 min, 30 min and 60 min, respectively. JSM-6700 scanning electron microscope (SEM) was employed
to observe the structure of treated surface along the vertical section and the cross section. The microstructure features of the nanostructure layer were observed by using JEM-3010 transmission electron microscope (TEM), which sample preparations were corresponding to scanning. X-ray diffraction (XRD) of the surface layer in the SFPB-treated samples were carried out on RINT2200/PC X-ray diffractometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2 การขั้นตอนที่ทดลองวัสดุที่ใช้ในการศึกษานี้เป็นโลหะผสม CuW70 การตกผลึกนาโนผิวของโลหะผสม W Cu ได้รับ โดยใช้ระบบการระดมยิงอนุภาคเหนือจลน์-3000 (SFPB) ทำงานความดัน 0.5 MPa และยิง peening เวลา 15 นาที 30 นาที และ 60 นาที ตามลำดับ ถูกจ้าง JSM-6700 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)สังเกตโครงสร้างของผิวบำบัดตามส่วนแนวตั้งและข้าม ลักษณะโครงสร้างจุลภาคของชั้น nanostructure ถูกสังเกตโดย JEM-3010 อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์แบบส่องผ่าน (TEM), ซึ่งการเตรียมตัวอย่างได้ที่สอดคล้องกับการสแกน กระจายแสงเอ็กซเรย์ (XRD) ของชั้นผิวในตัวอย่างที่ SFPB ถือว่าได้ดำเนินการใน RINT2200/PC X-ray diffractometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2. ขั้นตอนการทดลอง
วัสดุที่ใช้ในการศึกษาครั้งนี้คือ CuW70 โลหะผสม พื้นผิวนาโนตกผลึกของ W-Cu อัลลอยด์ที่ได้รับโดยใช้การเคลื่อนไหว-3000 ระบบอนุภาคเหนือโจมตี (SFPB) ความดันการทำงาน 0.5 MPa และยิง peening เวลา 15 นาที, 30 นาทีและ 60 นาทีตามลำดับ JSM-6700 สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกจ้างมา
เพื่อสังเกตโครงสร้างของพื้นผิวที่ได้รับการรักษาตามส่วนแนวตั้งและแนวตัดขวาง คุณสมบัติจุลภาคของชั้นโครงสร้างระดับนาโนที่ถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้ JEM-3010 ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ซึ่งการเตรียมตัวอย่างถูกที่สอดคล้องกับการสแกน X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ของชั้นผิวในตัวอย่าง SFPB รับการรักษาที่ถูกดำเนินการใน RINT2200 PC / X-ray diffractometer