where the summation index c now runs over the various crystalline substances present (e.g. barite, rutile hematite, crocoite, etc.). In Fig. 2, as examples the phase-specific 2θ patterns of hematite [Ghematite(2θ)], Zn-yellow [GZn−yellow(2θ)] and talc [Gtalc(2θ)] are shown, as well as the residual background profile B(2θ). In Fig. 3, the sinograms of barite and rutile (resp. Sbarite (x, ω) and Srutile(x, ω)) are shown.
The decomposition method used here is similar to Pawley fitting, in the sense that the diffraction pattern is parameterized using several crystal properties. However, as opposed to Pawley fitting,most of themare kept constant when calculating theGc (2θ) patterns so that only the magnitude of the Pawley scaling factors Sc (xi ,ωk) are refined in a least-squares sense. Additional refined parameters in the basis functions Gc (2θ) are the sample–detector distance and some peak profile parameters (e.g. Gaussian peak widths). The fitted scaling factors are proportional to the amount of scattering material irradiated, and the sinograms Sc (x, ω) give rise to phase distribution maps gc (x, y) in the tomographic plane.
The XRF background spectra B(E) and the diffraction background profiles B(2θ) can be described by means of a sum of orthogonal polynomial terms[14] or subtracted from the original data by means of a peak-stripping algorithm.
ที่ดัชนีบวก c ตอนนี้ทำงานกว่าสารผลึกต่างๆในปัจจุบัน (เช่นแร่แบไรท์, ออกไซด์ rutile, CROCOITE ฯลฯ ) ในรูป 2 เป็นตัวอย่างรูปแบบ2θเฟสที่เฉพาะเจาะจงของออกไซด์ [Ghematite (2θ)] Zn เหลือง [Gzn เหลือง (2θ)] และแป้ง [Gtalc (2θ)] จะแสดงเช่นเดียวกับรายละเอียดพื้นหลังที่เหลือ B ( 2θ) ในรูป 3 sinograms ของแร่แบไรท์และ rutile (resp. Sbarite (x, ω) และ Srutile (x, ω)) จะแสดง.
วิธีการสลายตัวใช้ที่นี่จะคล้ายกับลีย์ที่เหมาะสมในแง่ที่ว่ารูปแบบการเลี้ยวเบนจะแปรใช้หลาย คุณสมบัติคริสตัล แต่เมื่อเทียบกับการที่เหมาะสมลีย์ส่วนใหญ่ของ themare คงเมื่อคำนวณ theGc (2θ) รูปแบบเพื่อให้มีเพียงความสำคัญของปัจจัยการปรับลีย์ Sc (XI, ωk) กำลังการกลั่นในสี่เหลี่ยมอย่างน้อยความรู้สึก พารามิเตอร์การกลั่นเพิ่มเติมในฟังก์ชั่นพื้นฐาน Gc (2θ) เป็นระยะตรวจจับตัวอย่างและบางพารามิเตอร์ละเอียดสูงสุด (เช่นความกว้างสูงสุดเสียน) ปัจจัยการปรับติดตั้งอยู่เป็นสัดส่วนกับปริมาณของวัสดุการกระเจิงรังสีและ sinograms Sc (x, ω) ก่อให้เกิดขั้นตอนการกระจายแผนที่ GC (x, y) ในระนาบ tomographic.
สเปกตรัมพื้นหลัง XRF B (E) และ พื้นหลังการเลี้ยวเบนโปรไฟล์ B (2θ) สามารถอธิบายได้ด้วยวิธีการของผลรวมของข้อตกลงพหุนามฉาก [14] หรือหักออกจากข้อมูลเดิมโดยวิธีการของอัลกอริทึมยอดปอก
การแปล กรุณารอสักครู่..

ที่ดัชนีรวม C ตอนนี้วิ่งผ่านผลึกสารต่าง ๆในปัจจุบัน ( เช่น แร่รูไทล์ , ฮีมาไทต์ โครคอยต์ ฯลฯ ) ในรูปที่ 2 เป็นตัวอย่างเฉพาะช่วง 2 θรูปแบบของแร่เหล็ก [ ghematite ( 2 θ ) ] , สังกะสีสีเหลือง [ gzn −สีเหลือง ( 2 θ ) ] และ [ gtalc แป้ง ( 2 θ ) ] จะแสดงเช่นเดียวกับส่วนที่เหลือพื้นหลังโปรไฟล์ B ( 2 θ ) ในรูปที่ 3 , sinograms ของแร่และรูไทล์ ( resp . sbarite ( Xω ) และ srutile ( x , ω ) แสดง การย่อยสลาย ใช้วิธี
ที่นี่ก็คล้ายกับพอว์ลีย์ , เหมาะสมในแง่ที่ว่ารูปแบบการเลี้ยวเบนเป็นพารามิเตอร์โดยใช้คุณสมบัติของผลึกหลาย อย่างไรก็ตาม , เป็นนอกคอกพอว์ลีย์ , เหมาะสมที่สุดแตกต่างกันคงที่เมื่อคำนวณ thegc ( 2 θ ) รูปแบบเพื่อให้มีเพียงขนาดของพอว์ลีย์ปรับปัจจัยที่ม ซีω K ) การกลั่นในความรู้สึกวิธี . เพิ่มพารามิเตอร์ในฟังก์ชันการกลั่นพื้นฐาน GC ( 2 θ ) ตัวอย่าง–เครื่องตรวจจับระยะทางและบางพารามิเตอร์ ( เช่นยอดโปรไฟล์เสียนสูงสุดความกว้าง ) การติดตั้งการปรับปัจจัยจะเป็นสัดส่วนกับปริมาณของวัสดุที่ผ่านการฉายรังสี และ sinograms SC ( x , ω ) ให้สูงขึ้นเพื่อระยะแจกจ่ายแผนที่ GC ( x , y ) ในเครื่องบิน tomographic .
พื้นหลังแสง XRF B ( E ) และรูปพื้นหลังโปรไฟล์ B ( 2 θ ) สามารถอธิบายได้โดยใช้ผลรวมของพหุนามเชิงตั้งฉากแง่ [ 14 ] หรือหักออกจากข้อมูลต้นฉบับ โดยจุดสูงสุดของปอก
การแปล กรุณารอสักครู่..
