From the fittings, the tracer diffu

From the fittings, the tracer diffusivities (D*) as well as the surface
exchange coefficients (k*) were determined (Tables 3 and 4
respectively).
The interested reader can find further information on the SIMS technique
and its limitations in [50–58] and references therein.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จากอุปกรณ์ diffusivities ติดตาม (D *) ตลอดจนพื้นผิวแลกเปลี่ยนค่าสัมประสิทธิ์ (k *) ถูกกำหนด (ตาราง 3 และ 4ตามลำดับ)ผู้อ่านที่สนใจสามารถค้นหาเพิ่มเติมข้อมูลเทคนิคซิมส์และข้อจำกัดของใน [50-58] และอ้างถึง therein

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จากอุปกรณ์ที่แพร่รอย (D *) เช่นเดียวกับพื้นผิว
สัมประสิทธิ์แลกเปลี่ยน (k *) ได้รับการพิจารณา (ตารางที่ 3 และ 4
ตามลำดับ).
ผู้อ่านที่สนใจสามารถหาข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเทคนิค SIMS
และข้อ จำกัด ใน [50 58] และการอ้างอิงนั้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จากอุปกรณ์เคลื่อนที่ diffusivities ( D * ) รวมทั้งค่าพื้นผิว
ตรา ( K * ) มีความตั้งใจ ( ตารางที่ 3 และ 4
2 )
ผู้อ่านที่สนใจสามารถหาข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเดอะซิมส์เทคนิค
และข้อจำกัดของ 50 ) [ 58 ] อ้างอิง