VI. CONCLUSION AND FUTURE WORKRelia

VI. CONCLUSION AND FUTURE WORK
Reliability degradation of a boost converter being operated
in closed loop has been presented in this paper. Components
used in this converter exhibit parameter variations due to aging
of the entire converter. Therefore, the effect of any variation in
MOSFET ON-state resistance RDS(ON), capacitance C, and
ESR of the output capacitor on the reliability of the power
converter have been analyzed, and a summary is presented in
Table III. The MTTF of the closed-loop converter decreases
with the gradual increase in both RDS(ON) and ESR. However,
any variation in RDS(ON) significantly impacts the reliability of
the entire converter compared with Cand ESR. In addition, the
reliability of the converter varies in a more complex manner

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

VI. สรุปผลและทำงานในอนาคตสร้างความน่าเชื่อถือของตัวแปลงเพิ่มการดำเนินการในการปิดได้ถูกนำเสนอในเอกสารนี้ คอมโพเนนต์ใช้ในรูปแบบพารามิเตอร์แสดงนี้แปลงเนื่องมาจากอายุแปลงทั้งนั้น ดังนั้น ผลของการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ในต้านทานสถานะในมอสเฟต RDS(ON), C ค่าความจุ และESR ของตัวเก็บประจุแสดงผลบนความน่าเชื่อถือของอำนาจมีการวิเคราะห์ตัวแปลง และสรุปนำเสนอในตาราง III MTTF แปลงปิดลดลงมีเพิ่มขึ้นใน RDS(ON) และ ESR อย่างไรก็ตามการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ใน RDS(ON) อย่างมีนัยสำคัญส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือของแปลงทั้งหมดเปรียบเทียบกับ Cand ESR แห่งความน่าเชื่อถือของการแปลงที่แตกต่างกันไปในลักษณะที่ซับซ้อนมากขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พระมงกุฎเกล้าเจ้าอยู่หัว สรุปการทำงานในอนาคตและการย่อยสลายความน่าเชื่อถือของการแปลงเพิ่มเข้ารับการผ่าตัดในวงปิดได้แสดงไว้ในบทความนี้ ชิ้นส่วนที่ใช้ในการจัดแสดงรูปแบบแปลงพารามิเตอร์นี้เนื่องจากอายุของแปลงทั้งหมด ดังนั้นผลกระทบของการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ในMOSFET ต้านทาน ON-รัฐ RDS (ON) ความจุ C และESR ของตัวเก็บประจุที่ส่งออกกับความน่าเชื่อถือของการใช้พลังงานที่แปลงได้รับการวิเคราะห์และสรุปจะนำเสนอในตารางที่สาม MTTF ของแปลงวงปิดลดลงกับค่อยๆเพิ่มขึ้นในทั้งRDS (ON) และ ESR อย่างไรก็ตามการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ใน RDS (ON) อย่างมีนัยสำคัญส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือของตัวแปลงทั้งเมื่อเทียบกับCand ESR นอกจากนี้ความน่าเชื่อถือของแปลงแตกต่างกันไปในลักษณะที่ซับซ้อนมากขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

6 สรุปและอนาคต
ความน่าเชื่อถือการสลายตัวของการเพิ่มการใช้ในแปลง
วงปิดได้รับการเสนอในบทความนี้ ส่วนประกอบที่ใช้ในการแปลงค่าพารามิเตอร์นี้

มีการเปลี่ยนแปลงเนื่องจากอายุของแปลงทั้งหมด ดังนั้นผลของการเปลี่ยนแปลงใด ๆในรัฐ
MOSFET RDS ความต้านทาน ( บน ) , ความจุ C ,
ESR ของผลผลิตตัวเก็บประจุกับความน่าเชื่อถือของพลังงาน
แปลง มาทำการวิเคราะห์และสรุปนำเสนอ
ตาราง III mttf ของแปลงปิดลดลง
กับค่อยๆเพิ่มขึ้นในทั้งสองระบบ RDS ( on ) และ ESR . อย่างไรก็ตาม การเปลี่ยนแปลงใดๆในระบบ RDS (

) อย่างมากต่อความน่าเชื่อถือของแปลงทั้งหมดเมื่อเทียบกับ C และ ESR . นอกจากนี้
ความน่าเชื่อถือของแปลงไปในลักษณะที่ซับซ้อนมากขึ้น