Each specimen was sectioned longitu

Each specimen was sectioned longitudinally at
mid-width using a wheel cutter, ground by SiC papers
and polished with 0.05 mm alumina powder.
Microstructures were examined using a scanning
electron microscope S570 equipped with an EDX
system for element analysis

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แต่ละชิ้นงานที่ถูกตัดตามยาวที่กลาง
ความกว้างโดยใช้เครื่องตัดล้อพื้นดินโดยเอกสาร sic
และขัดด้วย 0.05 มม. ผงอลูมิ.
จุลภาคถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
S570 มาพร้อมกับ EDX
ระบบการวิเคราะห์องค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จัดแบ่งเป็นแต่ละตัวอย่างเป็นส่วน ๆ longitudinally ที่
ใช้ตัดล้อ กลางความกว้างพื้น ด้วยกระดาษ SiC
และขัดเงา ด้วยผงอลูมินา 0.05 mm.
Microstructures ถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกนแบบ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน S570 ที่เพียบพร้อมไป ด้วยเรื่องการ
ระบบการวิเคราะห์องค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แต่ละห้องตัวอย่างเป็นซอย longitudinally ที่
ขนาดกลาง - ความกว้างโดยใช้ล้อใบมีด,ล่างโดยเช่นนั้นหนังสือพิมพ์
และขัดเงาพร้อมด้วยแป้งดินสอพอง 0.05 มม..
มอง ภาพ ระยะใกล้ข้างหน้าก็ตรวจสอบโดยใช้การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน S 570 จัดให้บริการพร้อมด้วยที่ edx
ระบบสำหรับส่วนที่การวิเคราะห์