Scanning Electron Microscopy was us

Scanning Electron Microscopy was used to reveal the differences between standard
electropolished (Fig. 7a) and magnetoelectropolished (Fig. 7b) surfaces of the same 316L SS. A slight
change in the MECP structure is observed, coming out of increased activity and/or wettability [10, 12].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนอิเล็กตรอนถูกใช้เพื่อแสดงความแตกต่างระหว่างมาตรฐานelectropolished (รูป 7a) และ magnetoelectropolished (รูป 7b) พื้นผิวของ 316L เดียว SS เล็กน้อยเปลี่ยนแปลงในโครงสร้าง MECP จะตรวจสอบ กับออกมาจากกิจกรรมที่เพิ่มขึ้นหรือความสามารถเปียก [10, 12]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนถูกใช้ในการแสดงให้เห็นความแตกต่างระหว่างมาตรฐาน
เคมีไฟฟ้า (รูป. 7a) และ magnetoelectropolished (รูป. 7b) พื้นผิวของเดียวกัน 316L SS เล็กน้อย
การเปลี่ยนแปลงในโครงสร้าง MECP เป็นที่สังเกตได้จากกิจกรรมที่เพิ่มขึ้นและ / หรือเปียกมา [10 12]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดถูกใช้เพื่อแสดงความแตกต่างระหว่างมาตรฐานelectropolished ( รูปที่ 68 ) และ magnetoelectropolished ( รูปที่ 7b ) พื้นผิวของ 316L SS เหมือนกัน เล็กน้อยการเปลี่ยนแปลงในโครงสร้าง MECP เป็นที่สังเกต ออกมาจากกิจกรรมที่เพิ่มขึ้นและ / หรือเปียก [ 12 ] 10 .