Fig : (a) A scanning electron micro

Fig : (a) A scanning electron microscope view of a diamond-tipped (triangular piece at the right) cantilever used with the atomic force microscope. The diamond tip is attached to the end of the cantilever with an adhesive. (b) Scratches produced on a surface by the diamond tip under different forces. Note the extremely small size of the scratches.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มะเดื่อ (ก) มุมมองกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของเพชรปลาย (ชิ้นสามเหลี่ยมที่มุมขวา) เท้าแขนใช้กับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ปลายเพชรที่แนบมากับปลายเท้าแขนด้วยกาว (ข) รอยขีดข่วนบนพื้นผิวที่ผลิตโดยปลายเพชรภายใต้กองกำลังที่แตกต่างกัน ทราบขนาดที่เล็กมากของรอยขีดข่วน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฟิก: A (ก) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนดูจากก้นเพชร (สามเหลี่ยมผืนด้านขวา) cantilever ที่ใช้กับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม คำแนะนำไดมอนด์แนบท้าย cantilever กับกาว (ข) ผลิตรอยขีดข่วนบนพื้นผิวตามคำแนะนำไดมอนด์ภายใต้กองกำลังที่แตกต่างกัน หมายเหตุรอยขีดข่วนขนาดเล็กมาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูป(ก)ดูกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนที่ของ Diamond Head - ห้องขัง(ชิ้นเป็นรูปสามเหลี่ยมที่ด้านขวา)ยื่นถ่วงกันเองที่ใช้กับกล้องจุลทรรศน์มีผลใช้บังคับปรมาณูได้. ปลายแผ่นความร้อน Steam Tip Diamond Head ที่ติดอยู่ในช่วงปลายของยื่นถ่วงกันเองที่พร้อมด้วยแผ่นเทปกาว ( B )รอยขีดข่วนบนพื้นผิวที่ผลิตจากปลายแผ่นความร้อน Steam Tip เพชรที่อยู่ ภายใต้ อำนาจแตกต่างกัน. โปรดบันทึกไว้ด้วยว่า:เป็นอย่างมากมีขนาดเล็กที่เป็นรอยขีดข่วนได้