XRD diffractograms of nanosilica(Fi

XRD diffractograms of nanosilica
(Figure 4) showed strong broad peaks
between 22o and 23o (2θ). These strong broad
peaks suggested characteristic of amorphous
SiO2.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Diffractograms XRD ของ nanosilica(รูป 4) แสดงให้เห็นยอดสิ่งที่แข็งแกร่งระหว่าง 22o 23o (2θ) กว้างแข็งแรงเหล่านี้ยอดแนะนำลักษณะของสัณฐานSiO2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffractograms XRD ของ nanosilica
(รูปที่ 4) พบว่ายอดในวงกว้างที่แข็งแกร่ง
ระหว่าง 22o และ 23o (2θ) เหล่านี้ในวงกว้างที่แข็งแกร่ง
ยอดเขาชี้ให้เห็นลักษณะของอสัณฐาน
SiO2

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์ diffractograms ของนาโนซิลิกา( รูปที่ 4 ) มียอดกว้างแข็งแรงและระหว่าง 22o 23o ( 2 θ ) เหล่านี้แข็งแรง กว้างยอดแนะนำลักษณะอสัณฐานแร่ซิลิคอนไดออกไซด์ .