The present TF-UV–vis technique makes possible the recording of
electronic spectra for highly absorbing (highly concentrated) solutions.
The combination of such spectra with TD-DFT calculations [21–23] enables
realistic assignments of the spectral features to specific species
(or, sometimes, of groups of species).
This approach has shown unequivocally that in CuCl2(aq) solutions
up to high concentrations, both without and with the addition of
NaCl, the only Cu(II)-containing species present were: [Cu(H2O)n]
2+,
[Cu(H2O)nCl]+, [Cu(H2O)nCl2]
0
, [CuCl(H2O)n]
+, [CuCl(H2O)nCl]0
, and
[CuCl2(H2O)n]
0
. No evidence was found under the present conditions
for the formation of [CuCl3(H2O)n]
− or [CuCl4]
2−, which have very distinctive
electronic spectra [1,23], even though such species undoubtedly
form in solutions containing extremely high concentrations of Cl− [1,3].
The present combination of TL-UV–vis with TD-DFT calculations
provides a powerful new tool for investigating chemical speciation of
highly concentrated (strongly absorbing) solutions. This allows for the
first time direct comparison of UV–vis data with structural techniques
such as XRD, XAS and EXAFS, and with computer simulations, all
of which generally need to employ concentrations well beyond that
usual in electronic spectroscopy. It should be noted that the present
TL-UV–vis + TD-DFT approach is readily applicable to many other
strongly absorbing solutions of both practical and theoretical interests,
including other transition-metal chloride systems.
เทคนิค TF-UV – vis ปัจจุบันทำให้สามารถบันทึกแรมสเป็คตราอิเล็กทรอนิกส์สำหรับโซลูชั่น (เข้มข้นสูง) ดูดซับสูงทำให้การรวมกันของแรมสเป็คตราดังกล่าวคำนวณ TD DFT [21-23]กำหนดจริงของสเปกตรัมการระบุชนิด(หรือ บางครั้ง กลุ่มพันธุ์)วิธีการนี้ได้แสดงให้เห็น unequivocally ที่ใน CuCl2(aq) โซลูชั่นขึ้นอยู่กับความเข้มข้นสูง ทั้งมี และไม่ มีการเพิ่มNaCl, Cu II-ประกอบด้วยพันธุ์อยู่ได้: [Cu (H2O) n]2 +[Cu (H2O) nCl] +, [Cu (H2O) nCl2]0, [CuCl (H2O) n]+, [NCl CuCl (H2O)] 0และ[CuCl2 (H2O) n]0. หลักฐานไม่พบสภาวะปัจจุบันต่อ [CuCl3 (H2O) n]− หรือ [CuCl4]2− ซึ่งมีความโดดเด่นมากอิเล็กทรอนิกส์แรมสเป็คตรา [1,23], สปีชีส์ดังกล่าวแม้ไม่ต้องสงสัยแบบฟอร์มในโซลูชั่นที่ประกอบด้วยความเข้มข้นสูงมากของ Cl− [1,3]ชุดปัจจุบันของ TL-UV – vis คำนวณ TD DFTมีเครื่องมือใหม่ที่มีประสิทธิภาพในการตรวจสอบทางเคมีการเกิดสปีชีส์ใหม่ของสูงเข้มข้นแก้ปัญหา (ขอดูดซับ) นี้ช่วยให้การก่อน เวลาการเปรียบเทียบข้อมูล UV – vis ด้วยเทคนิคโครงสร้างโดยตรงเช่น XRD, XAS และ EXAFS และคอมพิวเตอร์ ทั้งหมดซึ่งโดยทั่วไปจำเป็นต้องใช้ความเข้มข้นดีเกินกว่าที่ปกติในกอิเล็กทรอนิกส์ ควรสังเกตที่ปัจจุบันTL-UV – vis + TD-DFT วิธีเป็นพร้อมกันหลายโซลูชั่นขอดูดซับคอยทั้งปฏิบัติ และทฤษฎีรวมถึงระบบอื่น ๆ ของคลอไรด์ของโลหะทรานซิชัน
การแปล กรุณารอสักครู่..