and scanning electron microscope(SE

and scanning electron microscope
(SEM). By doing these, we aimed to provide an optimal range
of rZVI/VSS that would maximize the enhancement efficiency of the
combined system while minimize the negative impacts induced by
ZVI, which was significant for practical applications.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน(SEM) โดยทำเช่นนี้ เรามุ่งเน้นให้มีช่วงที่ดีที่สุดของ rZVI/VSS ที่จะเพิ่มประสิทธิภาพการปรับปรุงการระบบรวมในขณะที่ลดผลกระทบด้านลบที่เกิดจากZVI ที่สำคัญสำหรับการประยุกต์ใช้งานจริง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
(SEM) โดยการทำเช่นนี้เรามีวัตถุประสงค์เพื่อให้ช่วงที่ดีที่สุด
ของ rZVI / VSS ที่จะเพิ่มประสิทธิภาพการเพิ่มประสิทธิภาพของ
ระบบการทำงานร่วมกันในขณะที่ลดผลกระทบด้านลบที่เกิดจาก
ZVI ซึ่งเป็นที่สำคัญสำหรับการใช้งานจริง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และการสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) ทำเหล่านี้ เรามุ่งให้เหมาะสมช่วง
ของ rzvi / VSS จะขยายการเพิ่มประสิทธิภาพของระบบรวม
ในขณะที่ลดผลกระทบที่เกิดจาก
zvi ซึ่งสำคัญสำหรับการใช้งานในทางปฏิบัติ