Table 1. Review of the wafer’s type

Table 1. Review of the wafer’s type, the fabrication process used and the efficiency achieved. The average values and standard deviations for
the resistivity and the efficiency are also provided

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตารางที่ 1 ใช้ตรวจสอบชนิดของแผ่นเวเฟอร์ กระบวนการผลิต และประสิทธิภาพได้ ค่าเฉลี่ยและส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานสำหรับประสิทธิภาพและความต้านทานที่ยังมี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตารางที่ 1 การสอบทานของชนิดแผ่นเวเฟอร์ของกระบวนการผลิตที่ใช้และมีประสิทธิภาพประสบความสำเร็จ ค่าเฉลี่ยและค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสำหรับ
ความต้านทานและมีประสิทธิภาพนอกจากนี้ยังมี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตารางที่ 1 . ทบทวนประเภทของ wafer fabrication กระบวนการใช้และประสิทธิภาพความ ค่าเฉลี่ย และส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐาน สำหรับ
ค่าและประสิทธิภาพยังให้