. The reason for the marginal rise

. The reason for the marginal rise of the leakage current
may be attributed to the degradation (due to aging) of organic
epoxy used for edge passivation of the detectors.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

. เหตุผลการเกิดขึ้นของกระแสรั่วไหลอาจเกิดจากการสลายตัว (เนื่องจากอายุ) ของอินทรีย์อีพ็อกซี่ใช้ขอบฟิล์มเครื่องตรวจจับโลหะ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

. เหตุผลสำหรับการเพิ่มขึ้นของส่วนเพิ่มของการรั่วไหลของกระแสที่
อาจจะนำมาประกอบกับการย่อยสลาย (เนื่องจากอายุ) อินทรีย์
อีพ็อกซี่ใช้สำหรับทู่ขอบของเครื่องตรวจจับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

. เหตุผลสำหรับการเพิ่มขึ้นของกระแสรั่วไหล ?อาจจะเกิดจากการย่อยสลาย ( เนื่องจากอายุของอินทรีย์อีพ็อกซี่ที่ใช้สำหรับขอบรุ้ง ของเครื่องตรวจจับ