2.3. Observation by scanning electr

2.3. Observation by scanning electron microscopy (SEM)
SEM was employed to observe the surface of whole particles and whole powder. The fracture surface of the board made from whole particles after the internal bonding test was also observed. All specimens were coated with platinum-palladium by ion sputter coater (E1030; Hitachi, Japan). A field emission scanning electron microscope (FE-SEM, S4000; Hitachi, Japan) was employed for
microscopic study.



ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3 สังเกต โดยสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM)SEM ได้รับการว่าจ้างสังเกตพื้นผิวของอนุภาคทั้งหมดและผงทั้งหมด พื้นผิวทำให้คณะทำจากอนุภาคทั้งหมดหลังจากการทดสอบภายในงานยังได้ถูกตรวจสอบ ไว้เป็นตัวอย่างทั้งหมดถูกเคลือบ ด้วยแพลทินัมพาลาเดียม โดยไอออน sputter coater (E1030 ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) การปล่อยก๊าซฟิลด์การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE SEM, S4000 ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) ได้รับการว่าจ้างสำหรับศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 การสังเกตโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
SEM ถูกจ้างมาเพื่อสังเกตพื้นผิวของอนุภาคทั้งหมดและผงทั้ง พื้นผิวการแตกหักของคณะกรรมการที่ทำจากอนุภาคทั้งหลังจากการทดสอบพันธะภายในนอกจากนี้ยังพบว่า ตัวอย่างทั้งหมดถูกเคลือบด้วยทองคำขาวแพลเลเดียมโดยไอออนปะทุ Coater (E1030; ฮิตาชิญี่ปุ่น) การปล่อยสนามสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM, S4000; ฮิตาชิญี่ปุ่น)
เป็นลูกจ้างสำหรับการศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์. 

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 การสังเกตโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
SEM ใช้สังเกตผิวของอนุภาคทั้งหมดและผงทั้งหมด พื้นผิวที่แตกหักของกระดานทำจากอนุภาคทั้งหมดหลังจากการทดสอบพันธะภายในยังสังเกต ทั้งหมดทำการเคลือบด้วยแพลทินัมแพลเลเดียมไอออนพ่นออกโดยเครื่องเคลือบ ( e1030 ; Hitachi , ญี่ปุ่น ) ข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem ปล่อย ,s4000 ; Hitachi , ญี่ปุ่น ) เป็นแบบ


ศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์