The surface cross-sectional images

The surface cross-sectional images of the coatings were investigated
by using a field emission scanning electron microscope
(FE-SEM) (FEI Quanta FEG 250) equipped with EDS (OXFORD
X-Max). Crystal phase of the as-deposited coatings was investigated
by X-ray diffraction (Bruker D8 X-ray facility) using Cu Kα
radiation (λ¼0.154 nm), which was operated at 40 kV and 40 mA
with grazing incidence angle of 21. The scanning angle ranged
from 201 to 901 at a scanning speed of 41/min with 0.021 step size.
The XPS spectra was measured by X-ray photoelectron spectroscopy
(AXIS Ultra DLD) using an Al(mono) Kα X-ray source which
was operated at 12 kV and 10 mA. Raman spectra of the transfer
layers were obtained by a Raman spectroscopic (HR800) measurement
using an Arþ laser of 532 nm with a resolution of 1 cm1.
The typical data acquisition time was in the range of 60 s and the
spectrum was recorded in the range of 1000–1800 cm1 in order
to allow reliable fitting.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพหน้าตัดพื้นผิวของเคลือบถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดของการปล่อย(FE SEM) (FEI ควอนตั้ม FEG 250) พร้อมกับ EDS (OXFORDX-Max) รับการตรวจสอบระยะคริสตัลเคลือบฝากเป็นโดยใช้ Cu Kα กระจายเอ็กซเรย์ (Bruker D8 X-ray สถาน)รังสี (λ¼0.154 nm), ซึ่งดำเนินการใน 40 kV และ 40 mAกับการเล็มหญ้ามุมอุบัติการณ์ของ 21 มุมแกนที่โจมตีระยะไกลจาก 201 การ 901 ที่ความเร็วการสแกน 41 นาทีขนาด 0.021 ขั้นโดยวัดจากการ X-ray photoelectron สเปกโทรสโกสเปกตรัม XPS(แกน Ultra ปศุสัตว์โดยใช้ Al(mono) Kα X-ray แหล่งที่ดำเนินการใน 12 kV และ 10 mA รามันสเปกตรัมของการโอนย้ายชั้นได้รับ โดยการวัดสเปคตรัมรามัน (HR800)ใช้เป็นเลเซอร์ Arþ 532 nm ด้วยความละเอียด 1 cm1ข้อมูลทั่วไปซื้อมากในช่วง 60 s และบันทึกสเปกตรัมในช่วง 1000 – 1800 cm1 ตามลำดับเพื่อให้เหมาะสมน่าเชื่อถือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวภาพตัดขวางของไม้แปรรูปที่ถูกตรวจสอบ
โดยใช้ข้อมูลการปล่อยก๊าซกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
(FE-SEM) (เฟควอนตั้ม FEG 250) พร้อมกับ EDS (อ็อกซ์
X-Max) คริสตัลขั้นตอนของการเคลือบเป็นฝากถูกตรวจสอบ
โดยการเอ็กซ์เรย์เลนส์ (Bruker D8 X-ray สิ่งอำนวยความสะดวก) โดยใช้ลูกบาศ์กKα
รังสี (λ¼0.154นาโนเมตร) ซึ่งได้รับการดำเนินการใน 40 kV และ 40 มิลลิแอมป์
ด้วยมุมทุ่งเลี้ยงสัตว์อุบัติการณ์ของ 21 มุมสแกนอยู่ในช่วง
201-901 ที่ความเร็วในการสแกน 41 / นาทีมีขนาด 0.021 ขั้นตอน.
สเปกตรัม XPS โดยวัดจาก X-ray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก
(AXIS อัลตร้า DLD) โดยใช้อัล (ขาวดำ) ที่มาKαเอ็กซ์เรย์ซึ่ง
เป็น ดำเนินการใน 12 kV และ 10 มิลลิแอมป์ รามันสเปกตรัมของการถ่ายโอน
ชั้นที่ได้รับโดยรามันสเปกโทรสโก (HR800) การวัด
โดยใช้เลเซอร์ศศภท 532 นาโนเมตรที่มีความละเอียด 1 CM1.
เวลาการเก็บข้อมูลโดยทั่วไปอยู่ในช่วง 60 วินาทีและ
คลื่นความถี่ที่ได้รับการบันทึกอยู่ในช่วง ของ 1000-1800 CM1 ในการสั่งซื้อ
ที่จะอนุญาตให้เหมาะสมมีความน่าเชื่อถือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวหน้าตัดรูปเคลือบศึกษาโดยการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนฟิลด์( fe-sem ) ( เฟย Quanta FEG 250 ) พร้อมกับ EDS ( ฟอร์ดx-max ) คริสตัล เฟส ของที่ฝากเคลือบถูกสืบสวนโดยการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ ( X-ray BRUKER d8 ความสะดวก ) โดยใช้ Cu K αรังสี ( λ¼ 0.154 nm ) ซึ่งดำเนินการ 40 กิโล 40 มากับการแทะเล็มมุม 21 มุมระหว่างการสแกนจาก 201 901 ที่ความเร็วในการสแกนของ 41 / นาทีขนาด 0.021 ขั้นตอนThe XPS ถูกวัดด้วยเครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy สเปกตรัม( แกน Ultra กรมปศุสัตว์ ) โดยใช้ Al ( Mono ) K αแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ซึ่งดำเนินการใน 12 kV และ MA 10 รามานสเปกตรัมของการถ่ายโอนชั้นได้โดยรามันสเปกโทรสโกปี ( hr800 ) วัดการใช้เลเซอร์þ AR ของ 532 nm ด้วยความละเอียด 1 CM1 .เวลาบันทึกข้อมูลโดยทั่วไปอยู่ในช่วง 60 วินาที และสเปกตรัมที่ถูกบันทึกไว้ในช่วง 1000 - 1800 CM1 ในการสั่งซื้อเพื่อให้กระชับ เชื่อถือได้