Recent progress of SEM technology e

Recent progress of SEM technology enabled us to observe the ordered structure of mesoporous materials. Direct SEM observation of mesoporous materials can provide detail information on the external and internal structures, though it often faces charging problems of insulating frameworks and the structural collapse due to the electron beam irradiation. Low voltage SEM observation has become common both for top-surface imaging and reducing beam damage. In this work, high-resolution, direct SEM imaging of mesoporous silica powders and films was carried out under the condition of low voltages to characterize the surface structure that cannot be evaluated by TEM, XRD and N2 adsorption/desorption measurements. We synthesized SBA-15 powders using different aging temperatures, and observed the differences in surface structure. We also observed the surface structure of dip-coated SBA-16 films prepared with different template concentrations. The SBA-15 powder, which was aged at a lower temperature, was extremely beam sensitive, and the SBA-16 films prepared on glass substrates were heavily charging. For the SEM observation, we used beam deceleration and an improved scanning method to reduce the charging phenomenon and beam damage. We achieved this using a Hitachi S-4800 or an SU8000 FE-SEM, which both employ a snorkel type objective lens, a beam deceleration function and newly designed beam scan settings that combine slow and fast scanning techniques.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความคืบหน้าล่าสุดของเทคโนโลยี SEM ใช้สังเกตโครงสร้างสั่งซื้อวัสดุและตัวเรา ทัศนียภาพ SEM ของตัววัสดุสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างภายใน และภายนอก แต่มักจะเผชิญปัญหาชาร์จของฉนวนกรอบและยุบโครงสร้างเนื่องจากวิธีการฉายรังสีแสงอิเล็กตรอน แรงดันต่ำสังเกต SEM เป็นทั่วไปทั้งบนพื้นผิวภาพ และลดความเสียหายของลำแสง ในงานนี้ โดยตรง มีความละเอียดสูงภาพ SEM ของฟิล์มและผงซิลิก้าตัวถูกดำเนินการภายใต้เงื่อนไขของแรงดันต่ำต้องกำหนดลักษณะโครงสร้างพื้นผิวที่ไม่สามารถประเมินได้ โดยวัดการดูด ซับ/desorption ยการ XRD และ N2 เราสังเคราะห์ผง SBA-15 ใช้อายุที่แตกต่างกันอุณหภูมิ และสังเกตความแตกต่างในโครงสร้างผิว นอกจากนี้เรายังสังเกตโครงสร้างพื้นผิวของเคลือบจุ่ม SBA 16 ฟิล์มพร้อมต้นความเข้มข้น ผง SBA 15 ซึ่งเป็นอายุที่ต่ำกว่าอุณหภูมิ มากไวต่อแสง และฟิล์ม SBA 16 ที่เตรียมไว้บนพื้นผิวแก้วถูกมากชาร์จไฟ สังเกต SEM เราใช้ชะลอตัวคานและวิธีการสแกนการปรับปรุงเพื่อลดการเสียหายจากปรากฏการณ์และคานที่ชาร์จ เราทำนี้ใช้ S-4800 เป็นฮิตาชิหรือ SU8000 FE-SEM ซึ่งทั้งสองใช้เลนส์วัตถุประสงค์ชนิดดำน้ำ คานชะลอตัวฟังก์ชัน และการตั้งค่าการสแกนแสงออกแบบใหม่ที่รวมเทคนิคการสแกนอย่างรวดเร็ว และช้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความคืบหน้าล่​​าสุดของเทคโนโลยี SEM ช่วยให้เราสามารถสังเกตได้รับคำสั่งให้โครงสร้างของวัสดุเมโซพอรัส สังเกต SEM โดยตรงของวัสดุเมโซพอรัสสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างภายนอกและภายใน แต่ก็มักจะประสบปัญหาการเรียกเก็บเงินของกรอบฉนวนและการล่มสลายของโครงสร้างเนื่องจากการฉายรังสีลำแสงอิเล็กตรอน แรงดันต่ำ SEM สังเกตได้กลายเป็นเรื่องธรรมดาสำหรับการถ่ายภาพทั้งบนพื้นผิวและลดความเสียหายคาน ในงานนี้มีความละเอียดสูง, การถ่ายภาพโดยตรง SEM ของผงซิลิกาเมโซพอรัสและภาพยนตร์ได้ดำเนินการภายใต้เงื่อนไขของแรงดันไฟฟ้าต่ำที่จะอธิบายลักษณะโครงสร้างพื้นผิวที่ไ​​ม่สามารถได้รับการประเมินโดย TEM, XRD และ N2 การดูดซับ / วัดคาย เราสังเคราะห์ผง SBA-15 โดยใช้อุณหภูมิริ้วรอยแตกต่างกันและสังเกตเห็นความแตกต่างในโครงสร้างพื้นผิว นอกจากนี้เรายังสังเกตโครงสร้างพื้นผิวของจุ่มเคลือบฟิล์ม SBA-16 ที่จัดทำขึ้นมีความเข้มข้นแตกต่างกันแม่แบบ ผง SBA-15 ซึ่งเป็นอายุที่อุณหภูมิต่ำเป็นลำแสงที่มีความสำคัญมากและภาพยนตร์ SBA-16 จัดทำบนพื้นผิวแก้วที่ถูกเรียกเก็บเงินอย่างหนัก สำหรับการสังเกต SEM เราใช้การชะลอตัวของคานและวิธีการสแกนที่ดีขึ้นเพื่อลดปรากฏการณ์ชาร์จและความเสียหายของคาน เราประสบความสำเร็จนี้โดยใช้ฮิตาชิ S-4800 หรือ SU8000 FE-SEM ซึ่งทั้งจ้างเลนส์ใกล้วัตถุประเภทดำน้ำคานฟังก์ชั่นการชะลอตัวของการออกแบบใหม่และการตั้งค่าการสแกนลำแสงที่รวมเทคนิคการสแกนช้าและเร็ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความคืบหน้าล่าสุดของ SEM เทคโนโลยีช่วยให้เราสังเกตโครงสร้างที่เป็นระเบียบของวัสดุเมโซ . การสังเกตโดยตรงของวัสดุแบบเมโซพอรัสสามารถให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับโครงสร้างภายนอกและภายใน แม้ว่ามันมักจะเผชิญปัญหาของการฉนวนกรอบและโครงสร้างยุบเนื่องจากอิเล็กตรอนบีมการฉายรังสีการสังเกตแบบแรงดันต่ำได้กลายเป็นสามัญทั้งภาพพื้นผิวด้านบนและลดคานเสียหาย ในงานนี้ ความละเอียดสูง ภาพ SEM โดยตรงของผงซิลิกาเมโซและภาพยนตร์ได้ดำเนินการภายใต้เงื่อนไขของแรงดันไฟฟ้าต่ำลักษณะโครงสร้างผิวที่ไม่สามารถประเมินโดย TEM , XRD และ N2 การคายการดูดซับ / วัดเราสังเคราะห์ผง sba-15 อายุแตกต่างกันโดยใช้อุณหภูมิ และสังเกตความแตกต่างในโครงสร้างผิว นอกจากนี้เรายังสังเกตโครงสร้างผิวของฟิล์มที่เตรียม sba-16 จุ่มเคลือบที่มีความเข้มข้นแม่แบบที่แตกต่างกัน การ sba-15 ผง ซึ่งเป็นอายุที่อุณหภูมิต่ำมากๆ บีม อ่อนไหว และ sba-16 ภาพยนตร์ที่เตรียมไว้บนพื้นผิวกระจกหนักชาร์จสำหรับ SEM การสังเกต เราใช้วิธีสแกนของคานและการปรับปรุงเพื่อลดการปรากฏการณ์และคานเสียหาย เราบรรลุนี้โดยใช้ซอฟต์แวร์ s-4800 หรือ su8000 fe-sem ซึ่งทั้งสองใช้ท่อหายใจชนิดเลนส์วัตถุประสงค์ , คานและคานที่ออกแบบใหม่ของฟังก์ชันการตั้งค่าการสแกนที่ผสมผสานเทคนิคสแกนแบบช้าและเร็ว .