In measurement systems, the objects

In measurement systems, the objects of capacitive interference are the low-level signal transducers and low-level signal-carrying conductors. The sources of capacitive interference are conductors that have large varying voltages, typically with little or no current flow. In the usual measurement environment, such sources include fluorescent light bulb fixtures, unconnected wall ceiling power exhibitets voltages which vary from to -163 v at 60 long as the remain flows in the wires, but the voltage continues to vary from +163 to -163 V. Since such sources are present in virtually all laboratories, capacitive interference signals at 60 Hz can be appreciable (in varying degrees of severity) in nearly every measurement situation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในระบบการวัด วัตถุ capacitive รบกวนเป็นหัววัดสัญญาณระดับต่ำและนำถือสัญญาณระดับต่ำ แหล่งมาของการรบกวนสัญญาณควบคุมจะเป็นตัวนำที่มีขนาดใหญ่แรงดันไฟฟ้าที่แตกต่าง โดยมักจะ มีน้อย หรือไม่มีกระแสที่ไหลผ่าน ในสภาพแวดล้อมการวัดปกติ แหล่งดังกล่าวรวมถึงการแข่งขันหลอดไฟฟลูออเรสเซนต์ ผนังกับเพดานไฟ exhibitets แรงดันไฟฟ้าซึ่งแตกต่างไปจากการ-163 v 60 ยาวเป็นกระแสยังคงอยู่ในสาย แต่แรงดันไฟฟ้ายังคงแตกต่างจาก +163 ไป-163 V เนื่องจากแหล่งดังกล่าวมีอยู่ในห้องปฏิบัติการจริงทั้งหมด สัญญาณรบกวน capacitive ที่ 60 Hz จะเห็น (ในองศาที่แตกต่างของความรุนแรง) ในเกือบทุกสถานการณ์วัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในระบบการวัดวัตถุของการรบกวน capacitive ที่มีระดับต่ำก้อนสัญญาณและระดับต่ำสัญญาณแบกตัวนำ แหล่งที่มาของการรบกวน capacitive จะเป็นตัวนำที่มีแรงดันไฟฟ้าที่แตกต่างกันขนาดใหญ่มักจะไม่มีการไหลของกระแสเล็ก ๆ น้อย ๆ หรือ ในสภาพแวดล้อมการวัดปกติแหล่งดังกล่าวรวมถึงการติดตั้งหลอดไฟนีออนเกี่ยว exhibitets อำนาจเพดานผนังแรงดันไฟฟ้าที่แตกต่างจากการ -163 V ที่ 60 ตราบใดที่ยังคงอยู่ในกระแสสายไฟ แต่แรงดันไฟฟ้ายังคงแตกต่างจาก 163 เพื่อ -163 โวลต์ตั้งแต่แหล่งต่าง ๆ ที่มีอยู่ในแทบทุกห้องปฏิบัติการสัญญาณรบกวน capacitive ที่ 60 Hz สามารถเห็นได้ (ในองศาที่แตกต่างของความรุนแรง) ในเกือบทุกสถานการณ์การวัด