Cross section transmission electron

Cross section transmission electron microscopy (TEM) bright field images of (a)
an MBE (without) and (b) an IBA-MBE (with additional ion assistance) grown GaN (0001)
thin film on 6H-SiC (0001) .

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่วนขนส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ) ฟิลด์สว่างรูปของ (ก)
MBE (ไม่) และ (ข) อิบา-MBE (ด้วยความช่วยเหลือเพิ่มเติมไอออน) ปลูกกัน (0001)
ฟิล์มใน 6H ซิลิก้อน (0001) บาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้ามการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่วน (TEM) ภาพด้านที่สดใสของ (ก)
MBE (ไม่) และ (ข) IBA-MBE (ด้วยความช่วยเหลือไอออนเพิ่มเติม) โตกาน (0001)
ฟิล์มบางบน 6H-SiC (0001)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) สดใส ส่วนสนามภาพ ( A )
เป็น MBE ( ไม่มี ) และ ( ข ) iba-mbe ( ด้วยความช่วยเหลือของรายละเอียดเพิ่มเติม ) โดยปลูก ( 0001 )
ฟิล์มบาง ๆบน 6H SIC ( 0001 )