In the case of NR-C22EOMt-2, a smal

In the case of NR-C22EOMt-2, a small peak was observed at 2θ= 2.0° (~5.2 nm), corresponding to the (001) plane of the dispersed silicate layers in the NR matrix.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในกรณีของ NR-C22EOMt-2 สูงสุดขนาดเล็กพบว่า ที่ 2θ = 2.0 ° (~5.2 nm), ที่สอดคล้องกับระนาบ (001) ของชั้นซิลิเกตที่กระจัดกระจายในเมตริกซ์ NR

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในกรณีของ NR-C22EOMt-2, ยอดขนาดเล็กเป็นข้อสังเกตที่2θ = 2.0 ° (~ 5.2 นาโนเมตร) ซึ่งสอดคล้องกับ (001) ระนาบของชั้นซิลิเกตกระจายตัวในเมทริกซ์ยางธรรมชาติ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในกรณีของ nr-c22eomt-2 , สูงสุดขนาดเล็กพบใน 2 θ = 2.0 เมตร ( ~ 5.2 nm ) ที่สอดคล้องกับ ( 001 ) เครื่องบินของชั้นซิลิเกตโดยกระจายในเมทริกซ์