and observed using a JEOL JXA-840A

and observed using a JEOL JXA-840A scanning electron
microscope (20 kV) under a vacuum of 1.33  106 mBar (Jeol,
Japan).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และสังเกตการใช้อิเล็กตรอนแบบสแกน JEOL JXA 840Aกล้องจุลทรรศน์ (20 kV) ภายใต้สุญญากาศของ 1.33 10 6 mBar (Jeolญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และตั้งข้อสังเกตการใช้ JEOL JXA-840A สแกนอิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ (20 กิโลโวลต์) ภายใต้สุญญากาศ 1.33? 10? 6 mBar (Jeol,
ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และสังเกตการใช้จอล jxa-840a กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
( 20 กิโล ) ภายใต้สุญญากาศ 1.33  10  6 มิลลิบาร์ ( Jeol
, ญี่ปุ่น )