XRD patterns of the SiC (Fig. 6a) s

XRD patterns of the SiC (Fig. 6a) show three peaks, corresponding to (111), (220) and (311) crystal planes of cubic b-SiC (JCPDS card 029-1129) characteristic of 2h values of 35.6, 60 and 71.8, respectively. Additionally, there is a peak at low

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการ XRD ของ SiC (Fig. 6a) แสดงสามยอด ที่สอดคล้องกับ (111), (220) และคริสตัล (311) เครื่องบินของลูกบาศก์ b-SiC (JCPDS บัตร 029-1129) ลักษณะของค่า h 2 35.6, 60 และ 71.8 ตามลำดับ นอกจากนี้ มีสูงสุดที่ต่ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของ SiC (รูป. 6a) แสดงสามยอดที่สอดคล้องกับ (111) (220) และ (311) เครื่องบินผลึกลูกบาศก์ B-SiC (JCPDS บัตร 029-1129) ลักษณะของค่า 2h 35.6, 60 และ 71.8 ตามลำดับ นอกจากนี้ยังมีจุดสูงสุดที่ต่ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์รูปแบบของ SIC ( รูปที่ 6 ) แสดงสามยอดเขาที่ ( 111 ) ( 220 ) และ ( 311 ) คริสตัล เครื่องบินของลูกบาศก์ b-sic ( jcpds บัตร 029-1129 ) ลักษณะของค่านิยมที่เพิ่มขึ้นของ 35.6 , 60 และ 1 ตามลำดับ นอกจากนี้ มีจุดสูงสุดที่ต่ำ