2.3. Multivariate calibration model

2.3. Multivariate calibration models
The Vis-NIR spectra (400–2500 nm) were collected using a FOSS XDS instrument (FOSS, Hillerød, Denmark). Each spectrum was generated by averaging 32 scans, with 0.5 nm of increment. Two spectra were collected for each sample and the average spectrum was used for data analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3 ตัวแปรพหุเทียบรุ่น สเป็คเครื่อง Vis (400-2500 nm) ถูกจัดเก็บโดยใช้เครื่องมือ FOSS XDS (FOSS, Hillerød เดนมาร์ก) สร้างสเปกตรัมแต่ละ โดยเฉลี่ย 32 สแกน กับ 0.5 นาโนเมตรของเพิ่ม สองมุมถูกรวบรวมสำหรับแต่ละอย่าง และใช้คลื่นความถี่โดยเฉลี่ยสำหรับการวิเคราะห์ข้อมูล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 แบบจำลองการสอบเทียบหลายตัวแปร
พิพาท-NIR สเปกตรัม (400-2500 นาโนเมตร) ที่ถูกใช้เป็นเครื่องมือ FOSS XDS (ฟอสส์ฮิลเลอรอดเดนมาร์ก) แต่ละคลื่นความถี่ที่ถูกสร้างขึ้นโดยเฉลี่ย 32 สแกน 0.5 นิวตันเมตรที่เพิ่มขึ้น สองสเปกตรัมถูกเก็บไว้สำหรับแต่ละตัวอย่างและสเปกตรัมเฉลี่ยถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์ข้อมูล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 รุ่นปรับแต่งตัวแปรหลายตัวส่วน VIS NIR Spectra ( 400 – 2 , 500 nm ) ในการเก็บรวบรวมข้อมูล เครื่องมือ xds ฟอส ( ฟอส denmark counties . kgm เดนมาร์ก ) แต่ละความถี่ที่ถูกสร้างขึ้นโดยเฉลี่ย 32 สแกน 0.5 nm ของอิทธิพล สองช่วงเก็บตัวสำหรับแต่ละตัวอย่างและสเปกตรัมโดยเฉลี่ยที่ใช้ในการวิเคราะห์ข้อมูล