Fig. 3 Scanning electron micrograph

Fig. 3 Scanning electron micrographs (backscattered electrons, 6509) of the surface of PEO coatings formed on AM50 magnesium alloy. All
the samples were treated for 60 s at 0.1 A cm-2 (a), 0.25 A cm-2 (b), 0.35 A cm-2 (c) and 0.45 A cm-2 (d)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Micrographs อิเล็กตรอนการสแกน fig. 3 (backscattered อิเล็กตรอน 6509) ของพื้นผิวของเคลือบสาธารณรัฐประชาธิปไตยเกิดขึ้นในโลหะผสมแมกนีเซียม AM50 ทั้งหมดตัวอย่างได้รับการรักษา 60 s ที่ 0.1 A ซม.-2 (a), 0.25 A ซม.-2 (b), A 0.35 ซม.-2 (c) และ 0.45 A ซม.-2 (d)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 3 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (อิเล็กตรอนสะท้อน, 6509) ของพื้นผิวของสารเคลือบ PEO ที่เกิดขึ้นบนโลหะผสมแมกนีเซียม AM50 ทุกกลุ่มตัวอย่างได้รับการรักษาเป็นเวลา 60 วินาทีที่ 0.1 ซม-2 (a) 0.25 ซม-2 (ข), 0.35 ซม-2 (c) และ 0.45 ซม-2 (ง)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 3 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( backscattered อิเล็กตรอน 6509 ) ของผิวเคลือบันเกิดขึ้นบน am50 โลหะผสมแมกนีเซียม ทั้งหมด
จำนวนรับ 60 s ที่ 0.1 เป็น cm-2 ( A ) , ( B ) เป็น cm-2 0.25 , 0.35 และ 0.45 เป็น cm-2 ( C ) เป็น cm-2 ( D )