Two methods of the TEM specimen pre

Two methods of the TEM specimen preparation used in
the present work allowed to characterize the microstructure of the WHA. Argon ion milling at −50 ◦C was
used to prepare foils for the observation of the WHA
matrix microstructure, whereas an electrochemical polishing
method have been used for the preparation of
thin foils for characterizing the microstructure of the
tungsten particles. A relatively high density of dislocations
in the tungsten particles and a low density of
dislocations in the matrix characterize the as-sintered
WHA. The material annealed after cold rolling reveals
a refinement of the microstructure. The grain size locally
decreases down to about 100 nm in the tungsten
particles and in the matrix region located near the
particles.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิธีการสองวิธีที่ใช้ในการจัดเตรียมตัวอย่างยการทำงานอยู่สามารถกำหนดลักษณะการต่อโครงสร้างจุลภาคของ WHA ถูกกัดที่ −50 ◦C ไอออนอาร์กอนใช้ฟอยล์สำหรับสังเกตของ WHA เตรียมเมตริกซ์ต่อโครงสร้างจุลภาค โดยขัดการไฟฟ้าใช้วิธีการสำหรับการจัดเตรียมฟอยล์สำหรับกำหนดลักษณะการต่อโครงสร้างจุลภาคของบางอนุภาคของทังสเตน ความหนาแน่นค่อนข้างสูงของ dislocationsในอนุภาคทังสเตนและความหนาแน่นต่ำสุดของลักษณะของ dislocations ในเมตริกซ์ที่เป็นเผาWHA วัสดุ annealed หลังกลิ้งเย็นเผยความละเอียดลออของการต่อโครงสร้างจุลภาค ขนาดเมล็ดข้าวในท้องถิ่นลดลงประมาณ 100 nm ในทังสเตนอนุภาคและ ในภูมิภาคเมทริกซ์ที่อยู่ใกล้ตัวอนุภาค

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สองวิธีการของการเตรียมชิ้นงาน TEM
นำมาใช้ในการทำงานในปัจจุบันที่ได้รับอนุญาตที่จะอธิบายลักษณะโครงสร้างจุลภาคของแก กัดอาร์กอนไอออนที่ -50 ◦Cถูกใช้ในการเตรียมฟอยล์สำหรับการสังเกตของแกจุลภาคเมทริกซ์ในขณะที่ขัดไฟฟ้าวิธีการจะนำมาใช้ในการจัดทำแผ่นฟอยล์บางๆ สำหรับพัฒนาการจุลภาคของอนุภาคทังสเตน ความหนาแน่นค่อนข้างสูงของผลกระทบในอนุภาคทังสเตนและความหนาแน่นต่ำของผลกระทบในลักษณะเมทริกซ์เป็นเผาต่างหาก วัสดุที่อบรีดเย็นหลังจากที่เผยให้เห็นการปรับแต่งของจุลภาคที่ ขนาดของเมล็ดข้าวในประเทศลดลงลงไปประมาณ 100 นาโนเมตรทังสเตนอนุภาคและในภูมิภาคเมทริกซ์ตั้งอยู่ใกล้กับอนุภาค

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สองวิธีเต็มๆ ตัวอย่างที่เตรียมใช้ใน
งานปัจจุบันอนุญาตให้วิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของอะ . อาร์กอนไอออนโรงสีที่− 50 ◦ C
ใช้เตรียมฟอยล์สำหรับการสังเกตของเมทริกซ์โครงสร้างอะ

ส่วนวิธีการขัดออกได้ถูกใช้สำหรับการเตรียมการของ
ฟอยล์บางสำหรับลักษณะโครงสร้างจุลภาคของ
ทังสเตน อนุภาคค่อนข้างสูงความหนาแน่นของภาพยนตร์ชีวประวัติ
ในทังสเตนอนุภาคและความหนาแน่นต่ำของ
หลุดไปในเมทริกซ์ ลักษณะเป็นผง
อะ . วัสดุอบหลังการรีดเย็น เผยการปรับโครงสร้างจุลภาค . ขนาดเกรนภายใน
ลดลงลงมาประมาณ 100 nm ในทังสเตน
อนุภาคและในเมทริกซ์ภูมิภาคตั้งอยู่ใกล้กับ
อนุภาค