In the FIB, the focused liquid Ga+

In the FIB, the focused liquid Ga+ beam microscope was used for sitespecific materials milling at 1−30 kV acceleration voltages and the electron beam for nondestructive imaging and analysis to precisely locate the interface between biochar and minerals.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในโลตอแหล โฟกัสของเหลว Ga + ลำแสงกล้องจุลทรรศน์ถูกใช้สำหรับวัสดุ sitespecific กัด 1−30 kV เร่งแรงดันไฟฟ้าและลำอิเล็กตรอนไม่ทำลายภาพและการวิเคราะห์เพื่อค้นหาอินเทอร์เฟซระหว่างเกษตรกรและแร่ธาตุได้อย่างแม่นยำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ใน FIB ที่เน้นของเหลว Ga + คานกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้สำหรับวัสดุ sitespecific กัดที่ 1-30 แรงดันไฟฟ้าที่เร่งความเร็วกิโลโวลต์และคานอิเล็กตรอนสำหรับการถ่ายภาพแบบไม่ทำลายและการวิเคราะห์เพื่อค้นหาแม่นยำเชื่อมต่อระหว่าง biochar และเกลือแร่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในเรื่องโกหกโดยของเหลว GA + คานกล้องจุลทรรศน์ใช้ sitespecific วัสดุกัด 1 − 30 กิโล เร่งแรงดันไฟฟ้าและลำแสงอิเล็กตรอนสำหรับการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ความแม่นยําหารอยต่อระหว่างไบโอชาร์และแร่ธาตุ