Recently, a number of scanning prob

Recently, a number of scanning probe microscopy techniques have emerged that can provide more direct and revealing information of surfaces. In addition to the imaging at higher resolution, AFM is also capable of providing a general understanding of the local material properties of the heterogeneous samples Sultan and McGarry 1973; Kinloch et al., 1983; Mélé et al., 2002; Paredes et al., 2005; De Wolf et al., 2001

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อเร็ว ๆ นี้ จำนวนการสแกนโพรบไมโครสโคเทคนิคจะโผล่ออกมาที่สามารถให้มากขึ้นโดยตรง และเปิดเผยข้อมูลของพื้นผิว นอกจากภาพที่ความละเอียดสูง ด้านก็สามารถให้ความเข้าใจทั่วไปคุณสมบัติวัสดุในท้องถิ่นอย่างชนิดสุลต่านและ McGarry 1973 Kinloch et al. 1983 Mélé et al. 2002 Paredes et al. 2005 เดอหมา et al. 2001

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เมื่อเร็ว ๆ นี้จำนวนของเทคนิคกล้องจุลทรรศน์สอบสวนการสแกนจะโผล่ออกมาที่สามารถให้ข้อมูลเพิ่มเติมโดยตรงและเผยให้เห็นพื้นผิว นอกจากนี้ในการถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูงกว่า AFM นี้ยังมีความสามารถในการให้ความเข้าใจทั่วไปของคุณสมบัติของวัสดุในท้องถิ่นของกลุ่มตัวอย่างที่แตกต่างกันและสุลต่าน McGarry 1973; Kinloch et al, 1983. Mele et al, 2002. Paredes et al, 2005. De หมาป่า et al., 2001

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อเร็ว ๆนี้จำนวนของเทคนิคจุลทรรศน์สแกนตรวจสอบได้เกิดที่สามารถให้บริการโดยตรง และเผยให้เห็นรายละเอียดของพื้นผิว นอกจากภาพที่ความละเอียดสูงกว่า AFM ยังสามารถให้ความเข้าใจทั่วไปของท้องถิ่นคุณสมบัติของวัสดุของบริษัทตัวอย่างสุลต่านและแมคแกรรี่ 1973 ; คินเลิก et al . , 1983 ; M é l é et al . , 2002 ; Paredes et al . , 2005 ; เดอหมาป่า et al . , 2001