2.3. CharacterizationScanning elect

2.3. Characterization
Scanning electron microscope (SEM) images were taken on a Hitachi S-4800
FE-SEM equipped with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS). Transmission
electron microscope (TEM) images and selected area electron diffraction (SAED)
were taken on FEI Tecnai TEM with an acceleration voltage of 300 kV. To prepare
SEM or TEM samples, small amount of dispersion were vacuum-filtered on polycarbonate
membrane (pore size 0.2 lm) or dropped on copper grids, and dried
in vacuum oven. X-ray diffraction (XRD) patterns were measured on Rigaku
D/MAX-2500V/PC X-ray diffractometer with Cu Ka radiation. X-ray photoelectron
spectroscopy (XPS) was performed on a VG Microtech ESCA 2000 X-ray photoelectron
spectrometer using a monochromatized aluminum Ka anode. UV–visible
spectra were collected by a Varian Cary 5000 UV–visible spectrophotometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 ลักษณะ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ภาพที่ได้รับการดำเนินการเกี่ยวกับ Hitachi S-4800
FE-SEM พร้อมกับสเปคโทร X-ray พลังงานกระจาย (EDS) การส่งผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพและการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนพื้นที่ที่เลือก (SAED)
ถูกนำ FEI Tecnai TEM กับแรงดันการเร่งความเร็วของ 300 กิโลโวลต์ เพื่อเตรียมความพร้อม
SEM หรือตัวอย่าง TEM, จำนวนเงินขนาดเล็กของการกระจายถูกดูดกรองบนโพลีคาร์บอเนต
เมมเบรน (ขนาดรูขุมขน? 0.2 LM) หรือหล่นลงบนกริดทองแดงและแห้ง
ในเตาอบสูญญากาศ X-ray diffraction (XRD) รูปแบบการวัดใน Rigaku
D / MAX-2500V / PC X-ray มาตรการเลี้ยวเบนรังสีกับ Cu กา X-ray โฟโตอิเล็กตรอน
สเปกโทรสโก (XPS) ได้รับการดำเนินการเกี่ยวกับ VG Microtech ESCA 2000 X-ray โฟโตอิเล็กตรอน
สเปกโตรมิเตอร์โดยใช้อลูมิเนียม monochromatized กาขั้วบวก UV-มองเห็น
สเปกตรัมถูกเก็บรวบรวมโดย Varian นิวเคลียส 5000 UV-Visible Spectrophotometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 ลักษณะ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพที่ถูกถ่ายใน ฮิตาชิ s-4800
fe-sem พร้อมกับพลังงานรังสีเอกซ์กระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
( TEM ) และเลือกพื้นที่ภาพการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน ( saed )
ถูกถ่ายเฟย tecnai เต็มๆ กับเร่งแรงดัน 300 KV . เตรียมตัว
SEM หรือตัวอย่างประทับ ,จำนวนเล็ก ๆของการกระจายเป็นเครื่องดูดฝุ่นกรองบนเยื่อแผ่นโพลีคาร์บอเนต
( ขนาด  0.2 อิมพอร์ ) หรือลดลงบนกริดทองแดง ,
ในเตาอบสูญญากาศอบแห้ง การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์แบบวัด rigaku
D / max-2500v เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ CU ค่ะ / PC ด้วยรังสี
X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) แสดงบน ไมโครเทค เอสคาร์ 2000 X-ray photoelectron
2สเปกใช้ monochromatized อลูมิเนียม KA แอโนด UV –มองเห็น
Spectra จำนวนโดยเอจี - 5000 UV –มองเห็นวัสดุ