The original combination of high-an

The original combination of high-angle –2 (Bragg–Brentano geometry) X-ray diffraction with lowangle –2 X-ray reflectivity (XRR) techniques allows us to define the AZO target composition and inves-tigate the structural properties and surface/interface roughness of as-sputtered ZnO:Al films; besides,the growth dynamics of ZnO:Al is unambiguously determined.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชุดเดิมของการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ (Bragg-Brentano เรขาคณิต) สูงมุม –2 ด้วยเทคนิคแสงสะท้อน (XRR) เอ็กซ์เรย์ lowangle –2 ช่วยให้เราสามารถกำหนดองค์ประกอบเป้าหมาย AZO และ inves tigate ความหยาบโครงสร้างของพื้นผิว/อินเตอร์เฟซและคุณสมบัติของฟิล์ม ZnO:Al sputtered เป็น จอง เปลี่ยนแปลงเจริญเติบโตของ ZnO:Al อย่างชัดเจนกำหนด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รวมเดิมของมุมสูง? -2? (แบร็ก-Brentano เรขาคณิต) X-ray diffraction กับ lowangle? -2? X-ray การสะท้อนแสง (xrr) เทคนิคช่วยให้เราสามารถกำหนดองค์ประกอบเป้าหมาย AZO และ INVES-tigate คุณสมบัติโครงสร้างและพื้นผิว / หยาบอินเตอร์เฟซของซิงค์ออกไซด์เป็น-ละล่ำละลัก: อัภาพยนตร์; นอกจากนี้การเปลี่ยนแปลงของการเจริญเติบโตของซิงค์ออกไซด์: อัลมีความมุ่งมั่นอย่างไม่น่าสงสัย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ชุดเดิมของ  – 2  มุมสูง ( Bragg –โนเรขาคณิต ) การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์กับ lowangle  – 2  รังสีสะท้อน ( xrr ) เทคนิคที่จะช่วยให้เรา กำหนดเป้าหมาย และจัดการ tigate : องค์ประกอบโครงสร้างและคุณสมบัติที่ผิวของผิว / อินเตอร์เฟซเป็น sputtered ZnO : ภาพยนตร์ล นอกจาก การเปลี่ยนแปลงของซิงค์ออกไซด์ : อัลกันตัดสินใจ