In order to performthe line scans,

In order to performthe line scans, the samples have been cut in two
halves perpendicular to the large polished surface. The resulting two cross sections have been embedded in resin and polished and used in
the embedded form for the SIMS line scans. The line scan has been always
started at the polished side. The surface concentration has been
measured in the depth profiling mode. When needed, crater depths
were measured after the SIMS experiments using a surface profiler.
Typical profiles are given exemplarily in Fig. 3.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในสั่งสแกนบรรทัด performthe ตัวอย่างการตัดสองด้านที่ตั้งฉากกับพื้นผิวขัดเงาขนาดใหญ่ ส่วนขนสองผลลัพธ์ได้ฝังอยู่ในยาง และขัดเงา และใช้ในแบบฟอร์มที่ฝังตัวสำหรับสแกนรายการเดอะซิมส์ ได้รับการสแกนบรรทัดเสมอเริ่มต้นที่ด้านที่สวยงาม ความเข้มข้นผิวได้วัดลึกที่สร้างโพรไฟล์โหมด เมื่อจำเป็น ปล่องลึกไม่วัดหลังจากใช้ตัวสร้างโพรไฟล์ผิวทดลองเดอะซิมส์โพรไฟล์ทั่วไปจะได้รับ exemplarily ใน Fig. 3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อที่จะสแกนเส้น performthe ตัวอย่างที่ได้รับการตัดในสอง
ครึ่งตั้งฉากกับพื้นผิวขัดเงาขนาดใหญ่ ส่งผลให้ทั้งสองส่วนข้ามได้รับการฝังตัวอยู่ในเรซินและขัดและนำมาใช้ใน
รูปแบบที่ฝังตัวสำหรับสแกนเส้น SIMS เส้นที่สแกนได้เสมอ
เริ่มต้นที่ด้านข้างขัด ความเข้มข้นของพื้นผิวที่ได้รับการ
วัดในโหมดโปรไฟล์เชิงลึก เมื่อมีความจำเป็นลึกปล่องภูเขาไฟ
ถูกวัดหลังจากที่ทดลองใช้ SIMS ผิว Profiler.
รูปแบบโดยทั่วไปจะได้รับ exemplarily ในรูป 3

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อ performthe สแกนบรรทัดตัวอย่างที่ได้รับการตัดใน 2
ครึ่งตั้งฉากกับผิวขัดมันขนาดใหญ่ ส่งผลให้สองข้ามส่วนที่ถูกฝังอยู่ใน เรซิน และ ขัด และใช้ในการฝังตัว
แบบฟอร์มสำหรับซิมส์สายสแกน สายสแกนได้เสมอ
เริ่มที่ด้านข้างขัดเงา พื้นผิวของถูก
วัดความลึกโปรไฟล์โหมด เมื่อต้องการปล่องภูเขาไฟลึก
วัดหลังการทดลองใช้ซิมส์ผิวเฉพาะ
โปรไฟล์ทั่วไปจะได้รับ exemplarily ในรูปที่ 3