It is pointed out that the estimate

It is pointed out that the estimated value of the lateral size by AFM depends considerably on how the height profile is measured so it could be concluded that the small variation between the two techniques corroborate the average size estimated around
20 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มันจะชี้ให้เห็นว่า มูลค่าที่ประเมินของ AFM ขนาดด้านข้างมากขึ้นอยู่กับวิธีวัดค่าความสูงดังนั้นอาจสรุปได้ว่า การเปลี่ยนแปลงขนาดเล็กระหว่างเทคนิคทั้งสอง corroborate ขนาดโดยเฉลี่ยประมาณสถาน20 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มันเป็นเรื่องที่ชี้ให้เห็นว่าค่าประมาณของขนาดที่ด้านข้างโดย AFM มากขึ้นเกี่ยวกับวิธีการรายละเอียดความสูงวัดได้ดังนั้นจึงสามารถสรุปได้ว่าการเปลี่ยนแปลงเล็ก ๆ ระหว่างทั้งสองเทคนิคยืนยันขนาดเฉลี่ยประมาณรอบ
20 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มันชี้ให้เห็นว่าค่าประมาณของขนาดด้านข้างโดย AFM ขึ้นอยู่กับมากเกี่ยวกับวิธีการวัดความสูงโปรไฟล์ ดังนั้นสามารถสรุปได้ว่า การเปลี่ยนแปลงเล็กๆ ระหว่างสองเทคนิคยืนยันขนาดโดยเฉลี่ยประมาณ
20 nm .