surface. Fig. 1a and b shows the At

surface. Fig. 1a and b shows the Atomic Force Microscopy (AFM)
images of the gold and thiol-modified gold surface, in micrometer
scale, respectively. Standard silicon cantilevers (Quesant) with
a force constant ∼40 N/m, resonant frequency ∼137 kHz, and radius
of curvature

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิว Fig. 1a และ b แสดง Microscopy แรงอะตอม (AFM)ภาพทองคำทองและ thiol-modified ผิว ในไมโครมิเตอร์เครื่องชั่งน้ำหนัก ตามลำดับ Cantilevers ซิลิคอนมาตรฐาน (Quesant) ด้วยค่าคงแรง ∼40 N/m คงความถี่ ∼137 kHz และรัศมีของโค้ง < nmwere 10 ที่ใช้ ภาพภูมิประเทศและระยะได้รวบรวมกันในอัตราการสแกน 2 Hz ภายใต้ปฏิบัติการล้อมเงื่อนไขการ เห็นใน Fig. จัดในกลุ่ม thiol 1bผิวทองทั้งหมด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิว รูป 1a และ B แสดงกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)
ภาพของทองและสาย thiol-Modi
เอ็ดพื้นผิวทองในไมโครเมตรขนาดตามลำดับ cantilevers มาตรฐานซิลิกอน (Quesant)
ด้วยแรงคงไม่มี~40 / m ความถี่จังหวะ ~137
เฮิร์ทซ์และรัศมีของความโค้ง<10 nmwere ใช้ ภาพภูมิประเทศและเฟสที่ถูกเก็บรวบรวมพร้อมกันในอัตราที่สแกน 2 เฮิร์ตซ์ภายใต้การตรวจทางห้องปฏิบัติการโดยรอบเงื่อนไข เท่าที่เห็นในรูป กลุ่ม thiol 1b มีการจัดบนพื้นผิวทองทั้งหมด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิว รูปที่ 1A และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม B แสดง ( AFM )
รูปของทองและ thiol Modi จึงเอ็ด ทองผิว ในระดับไมโครเมตร
ตามลำดับ คานติลิเวอร์ซิลิคอนมาตรฐาน ( quesant )
แรงคงที่∼ 40 n / M , ความถี่เสียง∼ 137 กิโลเฮิรตซ์ และรัศมีความโค้งของ nmwere
< 10 ใช้ ภูมิประเทศและระยะภาพ
พร้อมกันเก็บที่อัตราการสแกน 2 Hz ภายใต้
ปฏิบัติการโดยเงื่อนไข ตามที่เห็นในรูป 1B ขนาดกลุ่มจัดใน

ทั้งทองผิว