Atomic force microscopy images were

Atomic force microscopy images were obtained in a Dimension Icon® Atomic Force Microscope with a NanoScopeVcontroller from Bruker equipped with a silicon TappingMode probe with a resonant frequency of 320 kHz and a 42Nm−1 constant. To obtain representative results, different regions of the samples were scanned.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพ microscopy แรงอะตอมได้รับในขนาดไอคอน®อะตอมบังคับกล้องจุลทรรศน์กับ NanoScopeVcontroller ที่จาก Bruker พร้อมโพรบ TappingMode ซิลิคอนที่มีความถี่คง 320 kHz และค่าคง 42Nm−1 รับผลพนักงาน ภูมิภาคต่าง ๆ ตัวอย่างถูกสแกน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่ได้รับในขนาดIcon®กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมกับ NanoScopeVcontroller จาก Bruker พร้อมกับสอบสวน TappingMode ซิลิกอนที่มีการสะท้อนความถี่ 320 เฮิร์ทซ์และ 42Nm-1 อย่างต่อเนื่อง เพื่อให้ได้ผลลัพธ์ที่เป็นตัวแทนภูมิภาคท​​ี่แตกต่างกันของกลุ่มตัวอย่างถูกสแกน