X-ray diffraction (XRD) patterns we

X-ray diffraction (XRD) patterns were measured (Rigaku,
RINT2200) for the as-prepared bulk samples in reflection geometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกวัด (RigakuRINT2200) ตัวอย่างเตรียมเป็นจำนวนมากในการสะท้อนทางเรขาคณิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) วัดรูปแบบ (Rigaku,
RINT2200) สำหรับกลุ่มตัวอย่างที่เป็นเตรียมในเรขาคณิตสะท้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์แบบวัด ( rigaku
, rint2200 ) สำหรับเป็นเตรียมเป็นกลุ่มตัวอย่างในเรขาคณิตสะท้อน