2.8. Scanning electron microscopy (

2.8. Scanning electron microscopy (SEM)
The morphology of TSH was evaluated by SEM on a JEOL JSM-
7500F microscope. A sample was coated with a 1–10-nm-thick
carbon layer and then observed with an accelerating voltage of
2–10 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.8 การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM)สัณฐานวิทยาของ TSH ถูกประเมิน โดย SEM ในการ JEOL JSM-7500F กล้องจุลทรรศน์ ตัวอย่างถูกเคลือบ ด้วย 1 – 10-nm-หนาชั้นคาร์บอน และสังเกตแล้ว ด้วยแรงปัจจุบัน2 – 10 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.8 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
สัณฐานวิทยาของ TSH ที่ประเมินโดย SEM ในจอล JSM -
7500f กล้องจุลทรรศน์ ตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วย 1 – 10 nm หนา
คาร์บอนเลเยอร์แล้วและเร่งแรงดันของ
2 – 10 kV .