TEM-image Fig. 4e, that roughly mic

TEM-image Fig. 4e, that roughly microspheres of size 260 nm of silica,
in which ZnO nanoparticles are dispersed. EDX confirms the presence
of peaks due to components of silicon and oxygen and zinc. In the case
of ZnO@SiO2@mSiO2 microspheres, it can be seen from TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

-รูปรูป 4e, microspheres ที่ประมาณของขนาด 260 nm ของซิลิกาใน ZnO ซึ่งเก็บกักจะกระจาย เห็น EDX ยืนยันสถานะการออนไลน์ของยอดเนื่องจากส่วนประกอบของซิลิคอน และออกซิเจน และสังกะสี ในกรณีของ ZnO@SiO2@mSiO2 microspheres จะเห็นได้จาก TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

TEM ภาพรูป 4E, ว่าประมาณ microspheres ขนาด 260 นาโนเมตรของซิลิกา
ซึ่งอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์จะแยกย้ายกันไป EDX ยืนยันการปรากฏตัว
ของยอดเขาเนื่องจากส่วนประกอบของซิลิกอนและออกซิเจนและสังกะสี ในกรณี
ของ ZnO @ microspheres SiO2 @ mSiO2 ก็สามารถเห็นได้จาก TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพรูปแบบจอฟ้าที่ประมาณและขนาด 260 nm ของซิลิกาอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์ ซึ่งจะกระจาย . การวัดยืนยันตนยอด เนื่องจากส่วนประกอบของซิลิกอน และออกซิเจน และธาตุสังกะสี ในกรณี@ @ msio2 ของซิงค์ออกไซด์ SiO2 ไมโครสเฟียร์ จะเห็นได้จากเต็มๆ