Surfacr morphology of membranr was

Surfacr morphology of membranr was studied using atomic force microscope (AFM), park System XE70. The surface roughness average (Ra) and root mean squared (Rq) were calculated from Nanoscope software dy using the following equation

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยา Surfacr ของ membranr เป็นศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบแรงอะตอม (AFM), สวน XE70 ระบบ ค่าเฉลี่ยความหยาบผิว (Ra) และรากหมายถึง ยกกำลังสอง (Rq) คำนวณจากซอฟต์แวร์ Nanoscope dy ใช้สมการต่อไปนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Surfacr สัณฐานวิทยาของ membranr ได้ศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM), ที่จอดระบบ XE70 ค่าเฉลี่ยความหยาบผิว (Ra) และค่าเฉลี่ยกำลังสอง (Rq) จะถูกคำนวณจาก DY ซอฟต์แวร์ Nanoscope ใช้สมการดังต่อไปนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

surfacr สัณฐานวิทยาของ membranr ถูกศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) xe70 ระบบอุทยาน ความหยาบผิวเฉลี่ย ( Ra ) และรากหมายถึงยกกำลังสอง ( RQ ) โดยคำนวณจากสมการต่อไปนี้โดยใช้ซอฟต์แวร์นาโนสโคป ดี้