Samples for scanning electron micro

Samples for scanning electron microscopy (SEM) were prepared by placing small pieces of the products (approximate cubes of few millimeters in length) on a SEM stub using a copper conducting tape.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างสำหรับการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ถูกเตรียมไว้ โดยวางชิ้นเล็ก ๆ ของผลิตภัณฑ์ (ของไม่กี่มิลลิเมตรความยาวเฉลี่ยลูกบาศก์) บนขั้ว SEM ที่ใช้ทำเทปทองแดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างสำหรับการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ได้จัดทำขึ้นโดยการวางชิ้นเล็ก ๆ ของผลิตภัณฑ์ (ก้อนประมาณไม่กี่มิลลิเมตรยาว) บนต้นขั้ว SEM ใช้ทองแดงทำเทป

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เตรียมได้โดยการวางชิ้นเล็ก ๆของผลิตภัณฑ์ ( ประมาณก้อนไม่กี่มิลลิเมตรความยาว ) บน SEM ต้นขั้วใช้ทองแดงทำเทป