Figure 4. SEM images of the peel te

Figure 4. SEM images of the peel test on dip-coated nanoparticle films before (A) and after a sintering process (B); white boxes indicate the areas
after peel tests, while red-dot ellipsoids show the area where scotch tape adhesives remained on the substrate after the test. (C) Titled SEM image
of the nanoparticles after sintering, and (D) averaged height profiles of the nanoparticles before and after sintering (as measured by AFM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 4 ประมวลภาพ SEM ทดสอบเปลือกบน nanoparticle ที่จุ่มเคลือบฟิล์มก่อน (A) และ หลังการเผาผนึก (B) กล่องสีขาวระบุพื้นที่
หลังจากทดสอบเปลือก ในขณะที่ ellipsoids จุดสีแดงแสดงพื้นที่ที่กาวเทป scotch ยังคงอยู่บนพื้นผิวหลังจากการทดสอบ รูป (C) Titled SEM
ของเก็บกักหลังเผา และ (D) averaged ค่าความสูงของเก็บกักก่อน และ หลังการเผาผนึก (ตามที่วัด ด้วย AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 4 SEM ภาพของการทดสอบเปลือกที่จุ่มเคลือบฟิล์มอนุภาคนาโนก่อน (A) และหลังกระบวนการเผา (B); กล่องสีขาวบ่งบอกถึงพื้นที่
หลังจากการทดสอบการลอกในขณะที่ ellipsoids แดงจุดแสดงพื้นที่ที่กาวสก๊อตเทปยังคงอยู่บนพื้นผิวหลังจากการทดสอบ (C) หัวข้อภาพ SEM
ของอนุภาคนาโนหลังจากการเผาและ (D) โปรไฟล์เฉลี่ยความสูงของอนุภาคนาโนก่อนและหลังการเผา (วัดจาก AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 4 ภาพ SEM ของเปลือกทดสอบจุ่มฟิล์มเคลือบอนุภาคนาโนก่อน ( ) และหลังจาก sintering ( b ) ; กล่องสีขาวระบุพื้นที่
หลังจากทดสอบเปลือก ในขณะที่ ellipsoids จุดสีแดงแสดงพื้นที่ที่สก๊อตเทปกาวลงบนพื้นผิวหลังจากการทดสอบ ( C ) ที่มีชื่อว่า SEM ภาพ
ของอนุภาคหลังเผา ,( ง ) เฉลี่ยสูงโปรไฟล์ของอนุภาคก่อนและหลังเผา ( วัดโดย AFM )