XRD measurements of the thin film a

XRD measurements of the thin film annealed at 500 °C show two peaks that belong to γ-phase

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัด XRD ของฟิล์มบางที่อบที่อุณหภูมิ 500 ° C แสดงยอดที่สองที่เป็นของγเฟส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด XRD ของฟิล์มบางอบที่ 500 ° C แสดงสองยอดที่อยู่ในเฟสแกมมา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวัดรังสีเอ็กซ์ของฟิล์มบางอบ 500 ° C แสดงสองยอดที่เป็นของγ - เฟส