This generates an external current

This generates an external current that
is typically 1000x higher than the beam current.
This substantial charge multiplication effect is the
basis for the EBIC technique.
Sensing of the EBIC current is done using an
external current amplifier whose output when
mixed with regular secondary electron signal
produces an image. This image provides
qualitative assessment of subsurface electrical
and physical properties within the semiconductor
with the resolution of secondary electron imaging.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นี้สร้างกระแสการภายนอกที่โดยทั่วไปคือ 1000 x สูงกว่าคานปัจจุบันผลคูณค่าที่พบนี้คือการพื้นฐานเทคนิค EBICตรวจของในปัจจุบัน EBIC เสร็จใช้การปัจจุบันขยายภายนอกที่มีผลเมื่อผสมกับสัญญาณปกติสองอิเล็กตรอนสร้างภาพ รูปนี้ให้เชิงคุณภาพประเมิน subsurface ไฟฟ้าและคุณสมบัติทางกายภาพภายในสารกึ่งตัวนำที่ความละเอียดของภาพอิเล็กตรอนรอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นี้จะสร้างกระแสภายนอกที่เป็นปกติ 1000x สูงกว่าปัจจุบันคาน. นี้ค่าใช้จ่ายคูณมากผลเป็นพื้นฐานสำหรับเทคนิค EBIC. ตรวจจับของกระแส EBIC จะทำโดยใช้เครื่องขยายเสียงในปัจจุบันภายนอกที่มีการส่งออกเมื่อผสมกับสัญญาณอิเล็กตรอนปกติรองผลิตภาพ. ภาพนี้มีการประเมินคุณภาพของการไฟฟ้าดินคุณสมบัติทางกายภาพภายในและเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความละเอียดของการถ่ายภาพอิเล็กตรอนรอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นี่จะสร้างกระแสภายนอกที่
มักจะ 1000x สูงกว่าคานปัจจุบัน คูณผล คือค่าใช้จ่ายนี้มาก

เทคนิคพื้นฐานสำหรับ ebic .
สัมผัสกระแส ebic เสร็จแล้วใช้
ภายนอกปัจจุบันเครื่องขยายเสียงที่มีผลผลิตเมื่อผสมกับสัญญาณอิเล็กตรอนทุติยภูมิปกติ

สร้างภาพ ภาพนี้มีการประเมินคุณภาพของน้ำใต้ดินไฟฟ้า

และคุณสมบัติทางกายภาพภายในสารกึ่งตัวนำ
ที่มีความละเอียดของภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ