The project explored the low temper

The project explored the low temperature, maskless digital fabrication of organic thin-film transistors (OTFTs) on large area rigid and flexible substrates used in flexible display backplanes.
During the manufacturing of OTFT backplanes, defects can occur at a number of different stages and can be caused by anomalies, such as contamination and thickness variations in the conductive and semi conductive layers. Defects are highly detrimental to the performance of the backplanes.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงการสำรวจอุณหภูมิต่ำ ประดิษฐ์ maskless ดิจิตอลของอินทรีย์แบบฟิล์ม transistors (OTFTs) บนพื้นที่ขนาดใหญ่แข็ง และยืดหยุ่นได้ใช้ backplanes แสดงความยืดหยุ่นในระหว่างการผลิตของ OTFT backplanes ข้อบกพร่องสามารถเกิดขึ้นที่ระยะต่าง ๆ และอาจเกิดจากความผิด เช่นรูปแบบการปนเปื้อนและความหนาในชั้นไฟฟ้าไฟฟ้าและกึ่ง ข้อบกพร่องมีผลดีสูงเพื่อประสิทธิภาพการทำงานของ backplanes

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงการสำรวจอุณหภูมิต่ำ, การประดิษฐ์ maskless ดิจิตอลทรานซิสเตอร์แบบฟิล์มบางอินทรีย์ (OTFTs) บนพื้นผิวบริเวณที่แข็งแรงและยืดหยุ่นขนาดใหญ่ที่ใช้ในการ backplanes จอแสดงผลที่มีความยืดหยุ่น.
ในระหว่างการผลิตของ OTFT backplanes ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นที่จำนวนของขั้นตอนที่แตกต่างกันและสามารถ จะเกิดจากความผิดปกติเช่นการปนเปื้อนและรูปแบบความหนาในชั้นนำไฟฟ้ากระแสไฟฟ้าและกึ่ง ข้อบกพร่องเป็นอย่างสูงที่เป็นอันตรายต่อการปฏิบัติงานของ backplanes ที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงการสํารวจอุณหภูมิต่ำ , ผลิตดิจิตอล maskless ของอินทรีย์และทรานซิสเตอร์ฟิล์มบาง ( otfts ) บนพื้นที่ขนาดใหญ่พื้นผิวแข็งและยืดหยุ่นที่ใช้ในการแสดงผลที่ยืดหยุ่นง่าย .
ในระหว่างการผลิตของ otft ง่าย , ข้อบกพร่องสามารถเกิดขึ้นได้ที่หมายเลขของขั้นตอนที่แตกต่างกันและสามารถเกิดได้จากประตูมิติเช่นการปนเปื้อนและความหนาของการเปลี่ยนแปลงในการเป็นสื่อกระแสไฟฟ้าและกึ่งชั้น ข้อบกพร่องอย่างมากต่อประสิทธิภาพของง่าย .